[发明专利]基于超声波的厚度测量方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种基于超声波的厚度测量方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该厚度测量方法包括：获取待测对象反射的超声回波信号的采样数据；从采样数据中提取一次回波信号的第一采样数据段，并提取预设数量个二次回波信号的第二采样数据段；分别计算各个第二采样数据段与第一采样数据段的相关系数；计算相关系数最大值对应的第二采样数据段与第一采样数据段的采样时间差；根据采样时间差计算待测对象的厚度。本申请利用对信号相关程度的分析，准确确定了二次回波信号的采样数据的提取起始位置，从而可精确计算出与一次回波信号的采样时间差，进而有效保障了对待测对象的厚度测量精度。

技术领域

本申请涉及超声波检测技术领域，特别涉及一种基于超声波的厚度测量方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

超声波是一种频率高于20000赫兹的声波，具有方向性好、穿透能力强、水中传播距离远等优异性能，被广泛用于测距、测速、清洗、焊接、碎石、杀菌消毒等领域。

利用超声波的良好穿透能力，一些基于超声波的测量装置被广泛应用于精密测量物体的厚度。然而，随着技术的进步，人们对于测厚的精度要求不断提高，传统的基于超声波的测厚方法逐渐无法满足人类的当前需求。鉴于此，提供一种解决上述技术问题的方案，已经是本领域技术人员所亟需关注的。

发明内容

本申请的目的在于提供一种基于超声波的厚度测量方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，以便有效提高测量精度。

为解决上述技术问题，第一方面，本申请公开了一种基于超声波的厚度测量方法，包括：

获取待测对象反射的超声回波信号的采样数据；

从所述采样数据中提取一次回波信号的第一采样数据段，并提取预设数量个二次回波信号的第二采样数据段；

分别计算各个所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的相关系数；

计算相关系数最大值对应的所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的采样时间差；

根据所述采样时间差计算所述待测对象的厚度。

可选地，在所述计算相关系数最大值对应的所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的采样时间差之前，还包括：

对相关系数的数列进行插值；

将插值后的数列最大值确定为所述相关系数最大值。

可选地，所述对相关系数的数列进行插值，包括：

对相关系数的数列进行拉格朗日插值。

可选地，所述提取预设数量个二次回波信号的第二采样数据段，包括：

逐次步进调整数据起止位置以提取预设数量个二次回波信号的所述第二采样数据段。

可选地，所述分别计算各个所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的相关系数，包括：

根据预设相关公式分别计算各个所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的相关系数，所述预设相关公式为：

其中，ρ为相关系数；[x₁(i)]为第一采样数据段；[x₂(i)]为第二采样数据段；n为[x₁(i)]和[x₂(i)]的数据长度。

可选地，所述根据所述采样时间差计算所述待测对象的厚度，包括：

根据预设厚度公式计算所述待测对象的厚度，所述预设厚度公式为：

其中，d为厚度；v为超声波传播速度；△T为采样时间差。