[发明专利]基于超声波的厚度测量方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种基于超声波的厚度测量方法，其特征在于，包括：

获取待测对象反射的超声回波信号的采样数据；

从所述采样数据中提取一次回波信号的第一采样数据段，并提取预设数量个二次回波信号的第二采样数据段；

分别计算各个所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的相关系数；

计算相关系数最大值对应的所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的采样时间差；

根据所述采样时间差计算所述待测对象的厚度。

2.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，在所述计算相关系数最大值对应的所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的采样时间差之前，还包括：

对相关系数的数列进行插值；

将插值后的数列最大值确定为所述相关系数最大值。

3.根据权利要求2所述的厚度测量方法，其特征在于，所述对相关系数的数列进行插值，包括：

对相关系数的数列进行拉格朗日插值。

4.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，所述提取预设数量个二次回波信号的第二采样数据段，包括：

逐次步进调整数据起止位置以提取预设数量个二次回波信号的所述第二采样数据段。

5.根据权利要求1所述的厚度测量方法，其特征在于，所述分别计算各个所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的相关系数，包括：

根据预设相关公式分别计算各个所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的相关系数，所述预设相关公式为：

其中，ρ为相关系数；[x₁(i)]为第一采样数据段；[x₂(i)]为第二采样数据段；n为[x₁(i)]和[x₂(i)]的数据长度。

6.根据权利要求1至5任一项所述的厚度测量方法，其特征在于，所述根据所述采样时间差计算所述待测对象的厚度，包括：

根据预设厚度公式计算所述待测对象的厚度，所述预设厚度公式为：

其中，d为厚度；v为超声波传播速度；△T为采样时间差。

7.一种基于超声波的厚度测量装置，其特征在于，包括：

采样模块，用于获取待测对象反射的超声回波信号的采样数据；

提取模块，用于从所述采样数据中提取一次回波信号的第一采样数据段，并提取预设数量个二次回波信号的第二采样数据段；

第一计算模块，用于分别计算各个所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的相关系数；

第二计算模块，用于计算相关系数最大值对应的所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的采样时间差；根据所述采样时间差计算所述待测对象的厚度。

8.根据权利要求7所述的厚度测量装置，其特征在于，还包括：

插值模块，用于对相关系数的数列进行插值，并将插值后的数列最大值确定为所述相关系数最大值。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序以实现如权利要求1至6任一项所述的基于超声波的厚度测量方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用以实现如权利要求1至6任一项所述的基于超声波的厚度测量方法的步骤。