[发明专利]双串绝缘子自爆的检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种双串绝缘子自爆的检测方法，其特征在于，包括步骤：

获取待检测双串绝缘子的待检测图像；

根据预先设置的模板图像，匹配所述待检测图像中的待检测特征区域，其中，所述模板图像包括模板特征区域，所述模板特征区域包括模板双串绝缘子的两条模板线；

计算所述待检测特征区域与所述将所述模板特征区域的基础矩阵；

基于所述基础矩阵将所述两条模板线投影到所述待检测图像中，得到所述待检测双串绝缘子的两条待检测线；

计算所述两条待检测线间的特征差值，并判断所述特征差值是否大于预先设定的差值阈值；

若所述特征差值大于预先设定的差值阈值，则判断所述待检测双串绝缘子出现自爆。

2.根据权利要求1所述的双串绝缘子自爆的检测方法，其特征在于，所述根据预先设置的模板图像，匹配所述待检测图像中的待检测特征区域的步骤具体包括：

根据所述模板特征区域的大小，确定检测窗口的大小；

移动所述检测窗口，并实时计算所述检测窗口与所述模板特征区域的像素相似度；

根据所述像素相似度，确定所述待检测特征区域。

3.根据权利要求2所述的双串绝缘子自爆的检测方法，其特征在于，所述根据所述像素相似度，确定所述待检测特征区域的步骤具体包括：

将所述像素相似度与预设的相似度阈值进行比较，若相似度大于所述相似度阈值则记录所述检测窗口的位置，得到多个检测窗口位置；

选取所述多个检测窗口位置中，相似度最大的检测窗口位置；

基于所述相似度最大的检测窗口位置确定所述待检测特征区域。

4.根据权利要求1所述的双串绝缘子自爆的检测方法，其特征在于，所述模板图像的设置步骤包括：

获取符合模板条件的双串绝缘子图像；

设置所述双串绝缘子图像的模板特征区域；

设置所述双串绝缘子图像中，每串绝缘子轴线到绝缘子外边缘线的中线为模板线。

5.根据权利要求1所述的双串绝缘子自爆的检测方法，其特征在于，所述计算所述两条待检测线间的特征差值的步骤包括：

计算所述两条待检测线在所述待检测图像中的一维灰度分布值信号；

计算所述两条待检测线的一维灰度分布值信号的信号差值，得到所述特征差值。

6.根据权利要求1所述的双串绝缘子自爆的检测方法，其特征在于，所述若所述特征差值大于预先设定的差值阈值，则判断所述待检测双串绝缘子出现自爆的步骤包括：

若所述特征差值大于预先设定的差值阈值，则提取对应的所述两条待检测线对应的检测位置；

判断所述检测位置间的距离是否超过预先设定的距离阈值；

若所述检测位置间的距离超过预先设定的距离阈值，则判断所述检测位置出现自爆。

7.一种双串绝缘子自爆的检测装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，用于获取待检测双串绝缘子的待检测图像；

匹配模块，用于根据预先设置的模板图像，匹配所述待检测图像中的待检测特征区域，其中，所述模板图像包括模板特征区域，所述模板特征区域包括模板双串绝缘子的两条模板线；

第一计算模块，用于计算所述待检测特征区域与所述将所述模板特征区域的基础矩阵；

投影模块，用于基于所述基础矩阵将所述两条模板线投影到所述待检测图像中，得到所述待检测双串绝缘子的两条待检测线；

第二计算模块，用于计算所述两条待检测线间的特征差值；

判断模块，用于若所述特征差值大于预先设定的差值阈值，则判断所述待检测双串绝缘子出现自爆。

8.根据权利要求7所述的双串绝缘子自爆的检测装置，其特征在于，所述匹配模块包括：

第一确定单元，用于根据所述模板特征区域的大小，确定检测窗口的大小；

第一计算单元，用于移动所述检测窗口，并实时计算所述检测窗口与所述模板特征区域的像素相似度；

第二确定单元，用于根据所述像素相似度，确定所述待检测特征区域。