[发明专利]一种低压配电盘供电可靠性分析方法及系统有效
| 申请号: | 201910851076.8 | 申请日: | 2019-09-10 |
| 公开(公告)号: | CN110514934B | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
| 发明(设计)人: | 李超群;李健;胡兵 | 申请(专利权)人: | 苏州热工研究院有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/52 |
| 代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 郭伟刚;车大莹 |
| 地址: | 215004 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 低压 配电盘 供电 可靠性分析 方法 系统 | ||
1.一种低压配电盘供电可靠性分析方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1、根据低压配电盘金属性接地故障计算模型,计算配电盘母排单相金属性接地故障电流If1和馈线回路金属性单相接地故障电流If2;
步骤S2、利用根据熔断器和接触器特性提取的特征参数,在多个保护装置的电流时间动作特性曲线上划分馈线回路接地故障电流区间,确定各故障电流区间存在的问题风险,其中,所述特征参数包括接触器额定分断电流Icn、接触器极限分断电流Icw、熔断曲线与配电盘零序曲线的交接点对应电流值Ijd、馈线零序曲线与熔断曲线交接点对应电流值Iq、馈线定时限零序动作电流Ig,将特征参数Ig、Icn、Icw、Ijd、Iq从小到大排列,进行区间划分以便确定在不同区间是否存在触点熔焊和越级跳闸问题;
步骤S3、根据所述配电盘母排单相金属性接地故障电流If1和所述馈线回路金属性单相接地故障电流If2和所述特征参数,通过确定馈线零序保护延时时间tg、配电盘零序反时限启动电流I0、配电盘零序保护定时限动作时间t0、配电盘零序保护定时限动电流I0、反时限时间系数K的范围从而实现针对非金属性接地故障存在的越级跳闸和触点熔焊问题的保护配置。
2.根据权利要求1所述的低压配电盘供电可靠性分析方法,其特征在于,在步骤S1中,所述配电盘母排单相金属性接地故障电流If1和所述馈线回路金属性单相接地故障电流If2分别通过以下公式计算:
其中,Un2为配电变压器低压侧额定电压,RT、XT为配电变压器归算至低压侧的阻抗参数,RL、XL为配电盘馈线回路电缆阻抗参数,Re为接地网干线裸铜缆电阻或专设PE保护线电阻。
3.根据权利要求2所述的低压配电盘供电可靠性分析方法,其特征在于,所述步骤S3包括:
步骤S31、确定馈线零序保护延时时间tg的整定范围,tf.Icw≤tg≤tf.Icn,其中,tf.Icn、tf.Icw为在所述熔断曲线上提取Icn、Icw对应的熔断时间;
步骤S32、确定配电盘零序反时限启动电流I0,I0取变压器低压侧额定电流的0.25~0.5倍;
步骤S33、确定配电盘零序保护定时限动作时间t0,t0=tg+Δt,其中,Δt为时间级差;
步骤S34、确定配电盘零序保护定时限动作电流I0,I0=Iq;
步骤S35、确定反时限时间系数K。
4.根据权利要求3所述的低压配电盘供电可靠性分析方法,其特征在于,所述步骤S35包括:
步骤S351、在所述熔断曲线上确定所述If1对应的熔断时间tf.If1;
步骤S352、在所述熔断曲线上确定所述If2对应的熔断时间tf.If2;
步骤S353、在所述熔断曲线上确定接触器额定分断电流Icn对应的熔断时间tf.Icn;
步骤S354、利用反时限时间系数K的不等式组确定K的最小值,K系数取值为:
其中,max{}表示取{}内数集的最大值,α、β为反时限特性参数。
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