[发明专利]一种测量高世代TFT基板玻璃下垂度的方法

说明书

本发明公开一种测量高世代TFT基板玻璃下垂度的方法，包括以下步骤：S1、取待测量的TFT基板玻璃样本；S2、沿TFT基板玻璃样本底面的中心线粘贴遮光条；S3、将TFT基板玻璃样本放置于测试支架；S4、将激光测距仪放置于测试平台上，利用激光测距仪测量测试平台至TFT基板玻璃样本最低点的垂直距离H_min，TFT基板玻璃下垂度=H₀‑H_min‑H₁，公式中H₀为测试支架的高度、H₁为遮光条的厚度；使用激光测距仪测量玻璃下垂度，测量机构不接触玻璃表面避免测量过程中测试机构接触玻璃的引起的抖动干扰测试结果；激光测距仪可以在测量平台上移动，玻璃中心的数据也同样可以测量，保证测量的准确性。

技术领域

本发明涉及玻璃检测技术领域，具体是一种测量高世代TFT基板玻璃下垂度的方法。

背景技术

TFT基板玻璃由于玻璃规格大，玻璃厚度薄导致玻璃在生产和加工过程中，不可避免的出现下垂，玻璃如果出现下垂容易堵塞下游客户生产线，所以玻璃的下垂度测量必须严格按照客户要求管控。

现有测量玻璃下垂度的方法是将将取样的玻璃基板放置测量台上，取样玻璃基板的长度和宽度根据测量要求切割。使用钢板尺测量玻璃最低点和测量台之间的间距H，取测量最小值H_min ，两侧玻璃托架高度为H₀，玻璃下垂度为H₀-Hmin，现有方法有以下几个缺点：

一、使用钢板尺测量因为接触玻璃，容易产生玻璃抖动，导致测不准。

二、使用钢板尺测量只能测量玻璃两边的数据，玻璃中间无法测量。

三、使用钢板尺测量最小刻度为0.5mm，精度不高。

四、使用钢板尺测量因为接触存在人为估测误差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量高世代TFT基板玻璃下垂度的方法，该方法能够减少人为误差，提高下垂度测量的准确性。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种测量高世代TFT基板玻璃下垂度的方法，包括以下步骤：

S1、取待测量的TFT基板玻璃样本；

S2、沿TFT基板玻璃样本底面的中心线粘贴遮光条；

S3、将TFT基板玻璃样本放置于测试支架；

S4、将激光测距仪放置于测试平台上，利用激光测距仪测量测试平台至TFT基板玻璃样本最低点的垂直距离H_min，TFT基板玻璃下垂度=H₀-H_min-H₁，公式中H₀为测试支架的高度、H₁为遮光条的厚度。

进一步的，所述遮光条采用黑色的即时贴。

本发明的有益效果是：

一、使用激光测距仪测量玻璃下垂度，测量机构不接触玻璃表面避免测量过程中测试机构接触玻璃的引起的抖动干扰测试结果。

二、激光测距仪可以在测量平台上移动，多点测量，取最小值，不局限于测量玻璃两侧边的数据，玻璃中心的数据也同样可以测量，保证测量的准确性。

三、使用激光测距仪测量玻璃下垂度，根据选用激光测试仪精度最高可以达到1μm，提高测试精度。

四、使用激光测距仪测量玻璃下垂度，没有最后一位的人为估测，避免主观误测。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明：