[发明专利]一种宽带SIW缝隙天线在审

专利信息
申请号: 201910674808.0 申请日: 2019-07-25
公开(公告)号: CN110380206A 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 包晓军;李琳;王育才;刘会涛;刘远曦;辛勇豪 申请(专利权)人: 珠海纳睿达科技有限公司
主分类号: H01Q1/38 分类号: H01Q1/38;H01Q1/48;H01Q1/50;H01Q13/10
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 伍志健
地址: 519080 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 介质基片 上表面金属层 金属化通孔阵列 下表面金属层 缝隙天线 矩形缝隙 宽带 上表面 下表面 基片集成波导腔体 蚀刻 方向排列 馈电结构 同轴接头 同轴线 长边 覆盖 包围 辐射 封闭 贯穿 外部 申请
【权利要求书】:

1.一种宽带SIW缝隙天线(1),包括:

介质基片(10),包括上表面和下表面;

上表面金属层(20),覆盖在所述介质基片(10)的上表面处;

下表面金属层(30),覆盖在所述介质基片(10)的下表面处;

金属化通孔阵列(40),以指定方向排列在所述介质基片(10)上,并贯穿所述介质基片(10),以开设至所述上表面金属层(20)和所述下表面金属层(30);

矩形缝隙(50),蚀刻在所述上表面金属层(20)上;

馈电结构(60),设置在所述介质基片(10)上;以及

同轴线或同轴接头(70),连接至所述馈电结构(60)以传输外部信号,并由所述馈电结构(60)激励所述宽带SIW缝隙天线(1)向外辐射;

其中,所述金属化通孔阵列(40)、所述上表面金属层(20)和所述下表面金属层(30)构成一段封闭的基片集成波导腔体,所述金属化通孔阵列(40)排列为包围所述矩形缝隙(50)的矩形,并使得与所述矩形缝隙(50)的长边形成夹角。

2.根据权利要求1所述的宽带SIW缝隙天线(1),其特征在于,所述金属化通孔阵列(40)具有统一的孔径,且各个金属化通孔之间的距离至少为孔径的两倍。

3.根据权利要求1所述的宽带SIW缝隙天线(1),其特征在于,所述矩形缝隙(50)的长边与所述金属化通孔阵列(40)所排列的矩形的长边之间的夹角是50°。

4.根据权利要求1所述的宽带SIW缝隙天线(1),其特征在于,所述矩形缝隙(50)的中心到所述金属化通孔阵列(40)所排列形成的矩形的两条长边的距离相等。

5.根据权利要求1-4中任一所述的宽带SIW缝隙天线(1),其特征在于,所述馈电结构(60)还包括金属化孔(62),所述金属化孔(62)贯穿所述介质基片(10)从而连接所述上表面金属层(20),并且所述金属化孔(62)连接所述同轴线(70)以接收外部信号。

6.根据权利要求5所述的宽带SIW缝隙天线(1),其特征在于,所述馈电结构(60)还包括蚀刻在所述下表面金属层(30)的金属化孔(62)外的蚀刻图案(64)。

7.根据权利要求5所述的宽带SIW缝隙天线(1),其特征在于,所述同轴线(70)的内导体连接至所述金属化孔(62),所述同轴线(70)的外导体连接至所述下表面金属层(30)。

8.一种宽带SIW缝隙天线(1),包括:

介质基片(10),包括上表面和下表面;

上表面金属层(20),覆盖在所述介质基片(10)的上表面处;

下表面金属层(30),覆盖在所述介质基片(10)的下表面处;

金属化通孔阵列(40),以指定方向排列在所述介质基片(10)上,并贯穿所述介质基片(10),以开设至所述上表面金属层(20)和所述下表面金属层(30);

矩形缝隙(50),蚀刻在所述上表面金属层(20)上;

馈电结构(60),包括:

蚀刻图案(64),蚀刻在所述下表面金属层(30)的金属化孔(62)外;

金属化孔(62),贯穿所述介质基片(10)以及所述上表面金属层(20)和所述下表面金属层(30);以及

同轴线或同轴接头(70),所述同轴线或同轴接头(70)的内导体连接至所述金属化孔(62),所述同轴线或同轴接头(70)的外导体连接至所述下表面金属层(30),以接收外部信号并激励所述宽带SIW缝隙天线(1)向外辐射;

其中,所述金属化通孔阵列(40)、所述上表面金属层(20)和所述下表面金属层(30)构成一段封闭的基片集成波导腔体,所述金属化通孔阵列(40)排列为包围所述矩形缝隙(50)的矩形,并使得与所述矩形缝隙(50)的长边形成夹角。

9.根据权利要求8所述的宽带SIW缝隙天线(1),其特征在于,所述金属化通孔阵列(40)具有统一的孔径,且各个金属化通孔之间的距离至少为孔径的两倍。

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