[发明专利]阵列基板、显示面板以及阵列基板的电性测试方法

说明书

本发明公开了一种阵列基板、显示面板以及阵列基板的电性测试方法，阵列基板具有显示区域和位于显示区域外周侧的非显示区域，阵列基板包括设置在非显示区域的测试组件，测试组件包括：测试晶体管，包括多个待测电极，多个待测电极包括源极、漏极及栅极；晶体管测试垫，每个待测电极与对应的晶体管测试垫电连接；以及至少一个电阻测试垫，每个电阻测试垫与多个待测电极中的任一待测电极对应电连接，其中，电阻测试垫与对应的待测电极及对应的待测电极所连的晶体管测试垫共同形成第一测试支路。本发明实施例提供的阵列基板、显示面板以及阵列基板的电性测试方法，能够对测试晶体管特性的测试数据进行更准确的分析。

技术领域

本发明涉及显示领域，具体涉及一种阵列基板、显示面板以及阵列基板的电性测试方法。

背景技术

随着显示装置的广泛使用，例如有机发光二极管显示装置(Organic LightEmitting Display，OLED)、液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)的普及，人们对显示装置的要求越来越高。

目前在显示装置的生产过程中，晶体管(Thin Film Transistor，TFT)作为显示装置的关键部件，如果能够对晶体管的特性进行测试并对测试进行准确地分析，对判断显示装置是否存在缺陷、掌握显示装置的使用寿命等方面将会存在积极作用。

发明内容

本发明提供一种阵列基板、显示面板以及阵列基板的电性测试方法，旨在能够对测试晶体管特性的测试数据进行更准确的分析。

第一方面，根据本发明实施例提出了一种阵列基板，阵列基板具有显示区域和位于显示区域外周侧的非显示区域，阵列基板包括设置在非显示区域的测试组件，测试组件包括：测试晶体管，包括多个待测电极，多个待测电极包括源极、漏极及栅极；晶体管测试垫，每个待测电极与对应的晶体管测试垫电连接；以及至少一个电阻测试垫，每个电阻测试垫与多个待测电极中的任一待测电极对应电连接，其中，电阻测试垫与对应的待测电极及对应的待测电极所连的晶体管测试垫共同形成第一测试支路。

根据本发明实施例的第一个方面，沿阵列基板的厚度方向，晶体管测试垫和电阻测试垫同层设置且均设置在测试晶体管上方，晶体管测试垫与对应待测电极之间设置有第一过孔，电阻测试垫与对应待测电极之间设置有第二过孔；其中，在平行于阵列基板的平面方向上，第一过孔与第二过孔间隔设置。

根据本发明实施例的第一个方面，栅极、源极和漏极分别电连接有一个电阻测试垫。

根据本发明实施例的第一个方面，测试组件进一步包括引线；晶体管测试垫通过引线与对应的待测电极电连接；和/或，电阻测试垫通过引线与对应的待测电极电连接。

根据本发明实施例的第一个方面，阵列基板进一步包括设置于显示区域的晶体管，测试晶体管与晶体管结构相同。

根据本发明实施例的第一个方面，测试组件进一步包括：辅助测试垫，多个待测电极中的至少一者对应电连接有至少两个辅助测试垫，在平行于阵列基板的平面方向上，辅助测试垫与晶体管测试垫间隔设置；其中，辅助测试垫与对应的待测电极共同形成第二测试支路；可选的，测试组件进一步包括辅助引线，辅助测试垫通过辅助引线与对应的待测电极电连接。

根据本发明实施例的第一个方面，沿阵列基板的厚度方向上，辅助测试垫设置在测试晶体管上方，辅助测试垫与待测电极之间设置有第三过孔；可选的，晶体管包括第四过孔，第三过孔的尺寸大于第四过孔的尺寸。

第二方面，根据本发明实施例提出了一种显示面板，包括：上述的阵列基板。