[发明专利]固化率检测装置

说明书

本发明涉及一种固化率检测装置，用于检测面板触控模组中光学胶的固化率，固化率检测装置包括光源、光检测器及挡板；光源设置于面板触控模组的第一表面一侧；光检测器设置于面板触控模组的第二表面一侧；第一表面和第二表面为面板触控模组相对的两个表面；挡板设置于面板触控模组与光检测器之间，挡板上开设有多个通孔，通孔的位置与光学胶在面板触控模组中的位置对应；光检测器用于检测光源发出的光透过面板触控模组及通孔后的光谱，还用于根据光学胶固化前的光谱及光学胶固化后的光谱计算光学胶的固化率。上述的固化率检测装置能够实现在光学胶的固化过程中实时检测光学胶的固化率，提高面板触控模组生产效率及产品质量。

技术领域

本发明涉及固化率检测技术领域，特别涉及一种固化率检测装置。

背景技术

面板触控模组包括玻璃基板和传感器，传感器通过光学胶与玻璃基板粘接，光学胶的固化程度反映了传感器与玻璃基板的粘接程度。现有的光学胶固化程度检测方式，通常需要破坏面板触控模组取出光学胶，且检测周期长，不利于提高生产效率。

发明内容

基于此，有必要针对现有的光学胶固化程度检测方式，需要破坏面板触控模组取出光学胶，检测周期长，不利于提高生产效率的问题，提供一种固化率检测装置。

一种固化率检测装置，用于检测面板触控模组中光学胶的固化率，所述固化率检测装置包括：

光源，设置于所述面板触控模组的第一表面一侧；

光检测器，设置于所述面板触控模组的第二表面一侧；所述第一表面和所述第二表面为所述面板触控模组相对的两个表面；

挡板，设置于所述面板触控模组与所述光检测器之间，所述挡板上开设有多个通孔，所述通孔的位置与所述光学胶在所述面板触控模组中的位置对应；

所述光检测器用于检测所述光源发出的光透过所述面板触控模组及所述通孔后的光谱；所述光检测器还用于根据光学胶固化前的光谱及光学胶固化后的光谱计算光学胶的固化率。

在其中一个实施例中，所述光检测器还用于将光学胶固化后的光谱与预设光谱进行比较，以判断所述光学胶在所述面板触控模组中的粘接是否平整。

在其中一个实施例中，所述光检测器设置于传输带上。

在其中一个实施例中，相邻两个通孔之间的距离为1毫米。

在其中一个实施例中，每个通孔的面积大于或等于5平方毫米。

在其中一个实施例中，所述挡板与所述光检测器之间的距离大于或等于50微米。

在其中一个实施例中，所述挡板包括多个第一拼板，每个第一拼板开设一个通孔。

在其中一个实施例中，所述挡板还包括多个第二拼板；每个第一拼板的侧面形成有凸起的插片或开设有插槽；每个第二拼板的侧面也形成有凸起的插片或开设有插槽；每个第一拼板的插片与相邻的第一拼板或第二拼板的插槽插接；每个第二拼板的插片与相邻的第一拼板或第二拼板的插槽插接。

在其中一个实施例中，所述挡板是一体成型的板状结构。

在其中一个实施例中，所述光源为紫外线光源。

本申请的固化率检测装置，通过在面板触控模组上方设置光源，在面板触控模组下方设置光检测器，并在面板触控模组与光检测器之间设置挡板，可以根据需要检测的面板触控模组的光学胶的区域在挡板上开设对应的通孔，光检测器能够检测光源发出的光透过面板触控模组及通孔后的光谱并根据光学胶固化前的光谱及光学胶固化后的光谱计算光学胶的固化率，从而能够实现在光学胶的固化过程中实时检测光学胶的固化率，提高面板触控模组生产效率及产品质量。

附图说明

图1为一实施例中的面板触控模组的结构示意图；