[发明专利]一种甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法有效
| 申请号: | 201910638203.6 | 申请日: | 2019-07-16 |
| 公开(公告)号: | CN112242490B | 公开(公告)日: | 2023-01-20 |
| 发明(设计)人: | 逄淑平;崔光磊;李志鹏;王啸 | 申请(专利权)人: | 中国科学院青岛生物能源与过程研究所 |
| 主分类号: | H10K71/00 | 分类号: | H10K71/00;H10K71/12;H10K71/40;H10K30/50;H10K30/60;H10K50/10;H10K30/10 |
| 代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 李颖 |
| 地址: | 266101 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 甲脒基钙钛矿 薄膜 修复 方法 | ||
1.一种甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法,其特征在于:
在0℃到100℃下,将甲脒基钙钛矿初始薄膜经氨气、含氨气的混合气体或含氨气的溶液中处理0.1s—30min,进而实现对甲脒基钙钛矿薄膜的均匀性得以提升;
或,在形成初始薄膜的前驱体溶液中通入氨气,直接制备高均匀性甲脒基钙钛矿薄膜;
所述甲脒基钙钛矿的结构式为ABX3,式中A为甲脒NH2-CH=NH2(FA)离子或与NH2-CH=NH2离子形成的复合离子的一种或几种;B为Pb金属离子、Sn金属离子与Pb金属离子、或与Sn金属离子形成的复合离子中的一种或几种;X为I、Br、Cl离子中的一种或者两种及以上。
2.按权利要求1所述的甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法,其特征在于:所述与NH2-CH=NH2离子形成的复合离子为NH2-CH=NH2离子与Cs、Ru、胺类或脒类离子形成的复合。
3.按权利要求1所述的甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法,其特征在于:所述与Pb金属离子、或与Sn金属离子形成的复合离子为Pb或Sn金属离子分别与Bi或Eu离子形成的复合。
4.按权利要求1所述的甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法,其特征在于:所述甲脒基钙钛矿(结构式为ABX3)初始薄膜中含质量百分比为甲脒基钙钛矿的含量为80wt%-100wt%。
5.按权利要求1所述的甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法,其特征在于:所述含氨气的混合气体为氨气与惰性气体的混合;其中,氨气的浓度介于0.1%到100%之间。
6.按权利要求1所述的甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法,其特征在于:所述含氨气的溶液为将氨气溶解至溶剂中,氨气的浓度为0.1%—饱和溶解度;其中,溶剂是氯苯、苯、甲苯、乙醚中的一种或几种的混合。
7.按权利要求6所述的一种甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法,其特征在于:所述甲脒基钙钛矿(结构式为ABX3)初始薄膜浸泡于含氨气的溶液中;或,含氨气的溶液滴加在钙钛矿薄膜上。
8.按权利要求1所述的甲脒基钙钛矿薄膜的后修复方法,其特征在于:所述在形成初始薄膜的前驱体溶液为低沸点有机溶剂;其中,低沸点有机溶剂为乙腈、乙醇、甲醇、四氢呋喃中的一种或几种的混合。
9.按权利要求1所述的方法所得甲脒基钙钛矿薄膜在太阳能电池,发光器件或探测器件中的应用。
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