[发明专利]受光元件和测距模块

权利要求书

1.一种受光元件，其包括：

片上透镜；

配线层；和

半导体层，其布置在所述片上透镜和所述配线层之间，

其中，所述半导体层包括：

第一电压施加单元，其被施加第一电压，

第二电压施加单元，其被施加与所述第一电压不同的第二电压，

第一电荷检测单元，其布置在所述第一电压施加单元的周边处，

第二电荷检测单元，其布置在所述第二电压施加单元的周边处，和

电荷排出区域，其设置在有效像素区域的外侧。

2.根据权利要求1所述的受光元件，其中，

所述配线层至少包括一个包括反射部件的层，并且

所述反射部件设置成在平面图中与所述第一电荷检测单元和/或所述第二电荷检测单元重叠。

3.根据权利要求1所述的受光元件，其中，

所述配线层至少包括一个包括遮光部件的层，并且

所述遮光部件设置成在平面图中与所述第一电荷检测单元和/或所述第二电荷检测单元重叠。

4.根据权利要求1所述的受光元件，其中，

所述电荷排出区域包括受到驱动的开口像素。

5.根据权利要求1所述的受光元件，其中，

所述电荷排出区域包括受到驱动的遮光像素。

6.根据权利要求1所述的受光元件，其中，

所述电荷排出区域包括被施加零电压或正电压的高浓度N型区域。

7.根据权利要求1所述的受光元件，其还包括：

在像素的边界部分处的P阱区域，其与所述第一电荷检测单元和所述第二电荷检测单元的周边处的绝缘膜接触。

8.根据权利要求7所述的受光元件，其中，

所述P阱区域的杂质浓度高于光电转换区域的杂质浓度。

9.根据权利要求1所述的受光元件，其还包括：

在所述第一电荷检测单元和所述第二电荷检测单元的周边处的绝缘膜与形成有像素晶体管的P阱区域之间的间隙区域中的N型扩散层，其被施加零电压或正电压。

10.根据权利要求9所述的受光元件，其中，

所述N型扩散层布置成被所述有效像素区域内部的像素列共用。

11.根据权利要求9所述的受光元件，其中，

所述N型扩散层布置在所述有效像素区域外侧的像素中。

12.根据权利要求9所述的受光元件，其中，

所述N型扩散层布置在所述有效像素区域内部的每个像素中。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的受光元件，其中，

所述第一电压施加单元和所述第二电压施加单元由分别形成在所述半导体层中的第一P型半导体区域和第二P型半导体区域构成。

14.根据权利要求1至12中任一项所述的受光元件，其中，

所述第一电压施加单元和所述第二电压施加单元由分别形成在所述半导体层中的第一传输晶体管和第二传输晶体管构成。

15.一种测距模块，其包括：

根据权利要求1至14中任一项所述的受光元件；

光源，其发出具有周期性地波动的亮度的照射光；和

发光控制单元，其控制所述照射光的照射时序。