[发明专利]差分馈电对数周期天线的反射系数测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种差分馈电对数周期天线的反射系数测试装置，其特征在于：包括底盘(1)、差分馈电端口对(2)；底盘(1)采用金属导体；差分馈电端口对(2)的数量与差分馈电对数周期天线的极化数相等，每个差分馈电端口对(2)对应一个极化的差分馈电对数周期天线，每个差分馈电端口对(2)包括两个差分馈电端口；各差分馈电端口对(2)的两个差分馈电端口的外导体分别连接底盘(1)，各差分馈电端口对(2)的两个差分馈电端口的内导体分别连接差分馈电对数周期天线的两个馈电线。

2.如权利要求1所述的差分馈电对数周期天线的反射系数测试装置，其特征在于：底盘(1)为圆柱体金属盘、矩形柱体金属盘、菱形柱体金属盘、三角形柱体金属盘、十字交叉结构的金属盘、金属导线中的一种。

3.如权利要求1所述的差分馈电对数周期天线的反射系数测试装置，其特征在于：各差分馈电端口均采用SMA连接器或SMP连接器。

4.一种差分馈电对数周期天线的反射系数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤A，设计差分馈电对数周期天线；

步骤B，构建反射系数测试装置：反射系数测试装置包括底盘(1)、差分馈电端口对(2)；底盘(1)采用金属导体；差分馈电端口对(2)的数量与差分馈电对数周期天线的极化数相等，每个差分馈电端口对(2)对应一个极化的差分馈电对数周期天线，每个差分馈电端口对(2)包括两个差分馈电端口；各差分馈电端口对(2)的两个差分馈电端口的外导体分别连接底盘(1)，各差分馈电端口对(2)的两个差分馈电端口的内导体分别穿出底盘(1)；

步骤C，将步骤A中设计的差分馈电对数周期天线的两个馈电线分别连接步骤B中构建的反射系数测试装置的各差分馈电端口对(2)的两个差分馈电端口的内导体；

步骤D，步骤C完成后，通过反射系数测试装置测试差分馈电对数周期天线的差分信号，将测得的差分信号进行合成，得到差分馈电对数周期天线的端口反射系数。

5.如权利要求4所述的差分馈电对数周期天线的反射系数测试方法，其特征在于：步骤A中，对所设计的差分馈电对数周期天线的形式以及端口反射系数进行电磁仿真。

6.如权利要求4所述的差分馈电对数周期天线的反射系数测试方法，其特征在于：步骤A中，所设计的差分馈电对数周期天线包括对称偶极子(3)、馈电平行双线(4)；对称偶极子(3)包括两个对称设置的振子；馈电平行双线(4)包括两个平行设置的馈电线；对称偶极子(3)的两个振子分别连接馈电平行双线(4)的两个馈电线，对称偶极子(3)的数量为一个或多个。

7.如权利要求4所述的差分馈电对数周期天线的反射系数测试方法，其特征在于：步骤A中，所设计的差分馈电对数周期天线为微带形式或纯金属形式，其极化方式为单线极化、双线极化、圆极化、双圆极化、椭圆极化的其中一种极化方式。

8.如权利要求4所述的差分馈电对数周期天线的反射系数测试方法，其特征在于：步骤B中，底盘(1)为圆柱体金属盘、矩形柱体金属盘、菱形柱体金属盘、三角形柱体金属盘、十字交叉结构的金属盘、金属导线中的一种。

9.如权利要求4所述的差分馈电对数周期天线的反射系数测试方法，其特征在于：步骤B中，各差分馈电端口均采用SMA连接器或SMP连接器。

10.如权利要求4所述的差分馈电对数周期天线的反射系数测试方法，其特征在于：步骤C中，差分馈电对数周期天线与反射系数测试装置连接后，将差分馈电对数周期天线与反射系数测试装置进行联合仿真，分析反射系数测试装置对测试结果的影响。