[发明专利]储层显微组分的定量方法

权利要求书

1.一种储层显微组分的定量方法，其特征在于，所述定量方法包括以下步骤：

Ⅰ)获取目标显微组分的形状特征以及能谱特征；

Ⅱ)对储层岩样进行前处理；

Ⅲ)通过扫描电子显微镜对前处理后的所述储层岩样进行扫描，获得一个感兴趣区域；

Ⅳ)通过图像处理技术将所述感兴趣区域划分为多个微区，获取所述多个微区中的所有显微组分，对所述多个微区中的所有显微组分的形状特征以及能谱特征进行分析；

Ⅴ)将所述多个微区中的所有显微组分的形状特征以及能谱特征与所述目标显微组分的形状特征以及能谱特征进行比对，确定所述多个微区中的目标显微组分，并且计算所述多个微区中的目标显微组分的面积；

Ⅵ)获取所述感兴趣区域的面积，计算所述多个微区中的目标显微组分的面积与所述感兴趣区域的面积的比值，即为所述感兴趣区域中的目标显微组分的含量。

2.根据权利要求1所述的定量方法，其特征在于，所述定量方法还包括：Ⅶ)重复步骤Ⅲ)至步骤Ⅵ)，计算多个感兴趣区域中的目标显微组分的平均含量。

3.根据权利要求1所述的定量方法，其特征在于，

在步骤Ⅴ)中，所述多个微区中的目标显微组分的面积为所述多个微区中的目标显微组分所对应的像素阵列的面积；

在步骤Ⅵ)中，所述获取所述感兴趣区域的面积为获取所述感兴趣区域所对应的像素阵列的面积；所述计算所述多个微区中的目标显微组分的面积与所述感兴趣区域的面积的比值为，所述多个微区中的目标显微组分所对应的像素阵列的面积与所述感兴趣区域所对应的像素阵列的面积的比值。

4.根据权利要求1所述的定量方法，其特征在于，在步骤Ⅴ)中，所述确定所述多个微区中的目标显微组分的步骤包括：将不是所述目标显微组分的显微组分从所述多个微区中的所有显微组分中剔除，从而确定所述多个微区中的目标显微组分。

5.根据权利要求1所述的定量方法，其特征在于，步骤Ⅰ)还包括：获取所述目标显微组分的尺寸特征和/或分布特征；

步骤Ⅳ)还包括：对所述多个微区中的所述所有显微组分的尺寸特征和/或分布特征进行分析；

步骤Ⅴ)还包括：将所述所有的显微组分的尺寸特征和/或分布特征，与所述多个微区中的所述目标显微组分的尺寸特征和/或分布特征进行比对。

6.根据权利要求1所述的定量方法，其特征在于，所述储层为高成熟-过成熟阶段的泥页岩储层；所述目标显微组分包括原生有机质和/或次生有机质。

7.根据权利要求6所述的定量方法，其特征在于，所述次生有机质为次生沥青。

8.根据权利要求1所述的定量方法，其特征在于，步骤Ⅱ)对储层岩样进行前处理为，对所述储层岩样依次进行切割、打磨以及抛光处理；或者

步骤Ⅱ)对储层岩样进行前处理为，先将所述储层岩样粉碎成颗粒，再用黏结剂将所述颗粒粘结，然后进行打磨以及抛光处理。

9.根据权利要求1所述的定量方法，其特征在于，在步骤Ⅲ)中，扫描电子显微镜扫描的所述储层岩样的表面与所述储层岩样的层面垂直。

10.根据权利要求1所述的定量方法，其特征在于，所述扫描电子显微镜为场发射扫描电子显微镜。