[发明专利]成盒测试电路、阵列基板和液晶显示装置

权利要求书

1.一种成盒测试电路，用于对液晶显示面板测试，所述液晶显示面板包括显示区域和非显示区域，其特征在于，所述成盒测试电路包括设置在所述非显示区域中的多个测试焊盘组，其中至少一个所述测试焊盘组包括两个测试焊盘对和一个转接焊盘，且在成盒测试过程中所述两个测试焊盘对共用所述转接焊盘，其中一个所述测试焊盘对包括一个奇数数据测试焊盘和一个偶数数据测试焊盘；在同一所述测试焊盘组中，所述转接焊盘设置在两个所述测试焊盘对之间；所述转接焊盘与所述液晶显示面板中的彩膜基板电连接，所述转接焊盘为所述彩膜基板提供公共电压信号；每一奇数数据测试焊盘对应所述液晶显示面板中的一条奇数测试信号线，每一偶数数据测试焊盘对应所述液晶显示面板中的一条偶数测试信号线。

2.如权利要求1所述的成盒测试电路，其特征在于，所述测试焊盘组包括依次排列设置的第一奇数数据测试焊盘、第一偶数数据测试焊盘、转接焊盘、第二奇数数据测试焊盘和第二偶数数据测试焊盘；

所述第一奇数数据测试焊盘和所述第二奇数数据测试焊盘，均与所述液晶显示面板中的奇数测试信号线以及所述液晶显示面板中的集成电路电连接；

所述第一偶数数据测试焊盘和所述第二偶数数据测试焊盘，均与所述液晶显示面板中的偶数测试信号线以及所述集成电路电连接。

3.如权利要求2所述的成盒测试电路，其特征在于，还包括转接板，所述转接焊盘与所述彩膜基板通过所述转接板实现电连接。

4.如权利要求3所述的成盒测试电路，其特征在于，在成盒测试过程中，所述第一奇数数据测试焊盘和所述第二奇数数据测试焊盘分别通过所述奇数测试信号线输出数据信号，所述第一偶数数据测试焊盘和所述第二偶数数据测试焊盘分别通过所述偶数测试信号线输出数据信号，所述转接焊盘通过所述转接板为所述彩膜基板提供公共电压信号。

5.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区域和非显示区域，所述非显示区域中设置有成盒测试电路，所述成盒测试电路包括多个测试焊盘组，其中至少一个所述测试焊盘组包括两个测试焊盘对和一个转接焊盘，且在成盒测试过程中所述两个测试焊盘对共用所述转接焊盘，其中一个所述测试焊盘对包括一个奇数数据测试焊盘和一个偶数数据测试焊盘；在同一所述测试焊盘组中，所述转接焊盘设置在两个所述测试焊盘对之间；所述转接焊盘与液晶显示面板中的彩膜基板电连接，所述转接焊盘为所述彩膜基板提供公共电压信号；每一奇数数据测试焊盘对应所述液晶显示面板中的一条奇数测试信号线，每一偶数数据测试焊盘对应所述液晶显示面板中的一条偶数测试信号线。

6.如权利要求5所述的阵列基板，其特征在于，所述测试焊盘组包括依次排列设置的第一奇数数据测试焊盘、第一偶数数据测试焊盘、转接焊盘、第二奇数数据测试焊盘和第二偶数数据测试焊盘；

所述第一奇数数据测试焊盘和所述第二奇数数据测试焊盘，均与所述阵列基板中的奇数测试信号线以及所述阵列基板中的集成电路电连接；

所述第一偶数数据测试焊盘和所述第二偶数数据测试焊盘，均与所述液晶显示面板中的偶数测试信号线以及所述集成电路电连接。

7.一种液晶显示装置，其特征在于，所述液晶显示装置包括如权利要求5～6任一权项所述的阵列基板。