[发明专利]无限多任务的按键测试系统

说明书

本发明提出一种无限多任务的按键测试系统，包括主板、多个固定座、测试控制模块、第一接口单元、按键打击模块以及主机。各待测试物具有按键部，且测试模式决定单元依据待测试物的种类而决定测试模式。主机通过第二通信单元与第一通信单元将测试模式传送至测试控制模块，使得测试控制模块基于测试模式而控制按键打击模块对各待测试物的按键部完成至少一打击测试程序。本发明的无限多任务的按键测试系统能够同时对众多数量的机械式开关零件、键盘或鼠标进行至少一打击测试程序以完成寿命测试、荷重测试或疲劳测试。本发明的无限多任务的按键测试系统也可以同时对机械式开关零件、键盘和鼠标进行打击以完成前述任一种测试。

技术领域

本发明涉及测试系统技术领域，尤其涉及一种无限多任务的按键测试系统。

背景技术

众所周知，电子装置绝大部分具有开关单元供用户执行电源开/关操作，且其同时也具有多个按键或一键盘供用户输入信息至电子装置及电机设备。值得说明的是，即使触控技术已经被广泛地应用至各式电子装置之中，然而键盘及鼠标依旧是计算器(Computer)所不可或缺的输入设备的选项。

熟悉键盘及鼠标的设计与制作的电子工程师必然知道，机械式开关 (Mechanicalswitch)为用于制造键盘及鼠标的关键零件；其中，在键盘的每一个按键之下均设有一颗按压式开关，而鼠标的左键与右键的下方则各设有一颗微动开关。因此，为了有效管控键盘及鼠标的质量，制造商通常会要求供货商所提供的每一颗机械式开关均必须通过寿命测试(Life cycle test)、荷重测试及疲劳测试。当然，完成制造的每一个键盘和鼠标同样也必须通过寿命测试、荷重测试及疲劳测试。

然而，基于机械式开关的零件、键盘及鼠标均有其专属的按键测试机台，目前并不存在一种按键测试机台其能够同时对机械式开关、键盘及鼠标进行打击测试以完成前述任一种测试流程。另一方面，就机械式开关的专属按键测试机台而言，其一次仅能够同时对数量有限的械式开关零件进行相关测试。同样地，键盘及鼠标的机械式开关也具有相同的实务应用缺点。

由上述说明可知，现有的按键测试机台的功能仍有所不足且有待改善。有鉴于此，本案的发明人极力加以研究发明，而终于研发完成本发明的一种无限多任务的按键测试系统。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种无限多任务的按键测试系统，其能够同时对众多数量的机械式开关零件、键盘或鼠标进行至少一打击测试程序以完成寿命测试、荷重测试或疲劳测试。另一方面，在实际应用上，本发明的无限多任务的按键测试系统也可以同时对机械式开关零件、键盘和鼠标进行打击以完成前述任一种测试。

为达成上述目的，本发明提出所述无限多任务的按键测试系统的一实施例，其包括主板、多个固定座、测试控制模块、第一接口单元、按键打击模块以及主机。一主板具有多个电性连接单元；多个固定座设置于该主板的上，用以供多个待测试物分别设置于其中，使得该多个待测试物分别与该多个电性连接单元达成电性连接；一测试控制模块设置于该主板的上，并具有一第一通信单元；一第一接口单元耦接于该测试控制模块与该多个电性连接单元的间；一按键打击模块位于该多个固定座的一上方处，且受控于该测试单元。一主机具有一测试模式决定单元与一第二通信单元；

其中，各所述待测试物具有一按键部，且该测试模式决定单元依据该待测试物的种类而决定一测试模式；该主机通过该第二通信单元与该第一通信单元将该测试模式传送至该测试控制模块，使得该测试控制模块基于该测试模式而控制该按键打击模块对各所述待测试物的该按键部完成至少一打击测试程序。

于前述本发明的无限多任务的按键测试系统的实施例中，该多个固定座包括多个第一固定座、多个第二固定座以及多个第三固定座。多个第一固定座，具有一第一容置空间；多个第二固定座具有一第二容置空间，且该第二容置空间小于该第一容置空间；多个第三固定座具有一第三容置空间，且该第三容置空间小于该第二容置空间。

于前述本发明的无限多任务的按键测试系统的实施例中，该待测试物可为下列任一者：机械式开关零件、鼠标、按压式键盘、或按压式按键组。