[发明专利]一种探测器调焦方法及探测器有效

专利信息
申请号: 201910533546.6 申请日: 2019-06-19
公开(公告)号: CN110390793B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 宋佳城;万跃敏;靳东风;杨正通;华志军 申请(专利权)人: 深圳市泰和安科技有限公司
主分类号: G08B17/107 分类号: G08B17/107;G01N21/01;G02B7/28
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 颜思晨
地址: 518000 广东省深圳市光明区公明*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 探测器 调焦 方法
【权利要求书】:

1.一种探测器调节方法,其特征在于,包括:

检测探测器在预设坐标系中的探头位置、所述探测器的反射器与所述探头之间的反射距离;

根据所述探头位置和所述反射距离计算调整所述探头时的调整距离;所述调整距离包括在所述坐标系中X轴和Y轴方向上的距离;

根据所述调整距离和所述探头位置调整所述探头的位置,并根据二分法的一步走法对调整之后的探头位置进行微调;

检测在微调过程中所述反射器在各个坐标处的反射光线的红外强度值,根据所述红外强度值确定最终调节结果;

所述根据所述调整距离和所述探头位置调整所述探头的位置,并根据二分法的一步走法对调整之后的探头位置进行微调,包括:

根据所述调整距离和所述探头位置的第一坐标,计算在将所述探头移动所述调整距离时对应的第二坐标,将所述探头移动至所述第二坐标对应的位置;所述第二坐标为所述第一坐标加上所述调整距离所得的坐标;

根据所述第二坐标和所述调整距离,计算所述探头在微调时对应的第三坐标和第四坐标,分别移动所述探头至所述第三坐标和所述第四坐标对应的位置;所述第三坐标为所述第二坐标的横坐标或纵坐标加上所述调整距离所得的坐标,所述第四坐标为所述第二坐标的横坐标或纵坐标减去所述调整距离所得的坐标;

所述检测在微调过程中所述反射器在各个坐标处的反射光线的红外强度值,根据所述红外强度值确定最终调节结果,包括:

检测所述反射器在所述第二坐标、所述第三坐标以及所述第四坐标处的反射光线的红外强度值;

从所述第二坐标、所述第三坐标以及所述第四坐标对应的红外强度值中识别出最大强度和次大强度,确定所述最大强度对应的最大坐标、所述次大强度对应的次大坐标;

将所述最大坐标与所述次大坐标的中点坐标识别为第五坐标;

检测所述探头在所述第五坐标处的测量精度;

若所述精度大于或者等于预设的精度阈值,则所述第五坐标为所述最终调节结果;

所述根据所述探头位置和所述反射距离计算调整所述探头时的调整距离,包括:

根据所述第一坐标、所述反射距离、预设的所述探测器的电机转动时间和电机转速,通过如下公式计算调整所述探头时的调整距离:

其中,S用于表示所述调整距离;N用于表示所述探测器的电机转速,L用于表示所述反射距离;t用于表示所述探测器的电机转动时间。

2.如权利要求1所述的探测器调节方法,其特征在于,所述检测探测器在预设坐标系中的探头位置、所述探测器的反射器与所述探头之间的反射距离之前,还包括:

将所述探头的位置粗调至预设的调节范围内。

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