[发明专利]无透镜成像系统的细胞尺寸测量装置及其测量方法有效
| 申请号: | 201910451742.9 | 申请日: | 2019-05-28 |
| 公开(公告)号: | CN110231276B | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
| 发明(设计)人: | 李建伟;李政鹏;余宁梅;戴力 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
| 主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14;G01B11/08 |
| 代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 曾庆喜 |
| 地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 透镜 成像 系统 细胞 尺寸 测量 装置 及其 测量方法 | ||
1.一种无透镜成像系统的细胞尺寸测量装置的测量方法,其特征在于,该方法应用无透镜成像系统的细胞尺寸测量装置进行测量,无透镜成像系统的细胞尺寸测量装置包括灯光支架(1),所述灯光支架(1)上在竖直方向固定有光源(2)和凸透镜(3),所述光源(2)位于凸透镜(3)正上方,所述凸透镜(3)正下方设置有CMOS传感器(4),所述CMOS传感器(4)连接有PCB电路板(5);所述光源(2)设置在灯光盒(6)中,灯光盒(6)与灯光支架(1)固定连接,所述灯光盒(6)下底面开设有微孔,所述光源(2)的光线由微孔射出;所述灯光支架(1)上还设置有样本固定支架(7),所述样本固定支架(7)将待测样本固定于CMOS传感器(4)上;所述CMOS传感器(4)设置于PCB电路板(5)上,所述PCB电路板(5)具有USB传输接口,所述PCB电路板(5)位于底座(8)上,所述底座(8)上扣设有外壳(9),所述外壳(9)将灯光支架(1)罩于其内部;
具体按照以下步骤实施:
步骤1、将待测细胞稀释后置于载玻片和盖玻片之间,得到待测细胞样本;
步骤2、将所述待测细胞样本置于CMOS传感器(4)上中央位置,并通过样本固定支架(7)固定待测细胞样本,开启光源(2),光源(2)发出的光线经凸透镜(3)聚拢垂直射向待测细胞样本;
步骤3、开启PCB电路板(5),使CMOS传感器(4)记录待测细胞样本的成像,并将成像数据经PCB电路板(5)导出;
步骤4、读取成像数据,将成像数据转化为灰度图像,通过细胞识别定位算法定位并标记视域内各细胞及其衍射环,衍射环与其对应标记细胞由近及远依次标记为第一衍射环,第二衍射环,第三衍射环,……,第N衍射环,N是不为0的自然数;
步骤5、选定初始测量方向测量标记细胞的第N衍射环半径d,通过菲涅尔衍射模型计算标记细胞与CMOS传感器(4)的距离r',通过r'采用菲涅尔衍射模型计算得到初始测量方向上标记细胞边缘与其第N衍射环边缘的距离d’,在初始测量方向标记细胞的半径R=d-d',将初始测量方向偏转一周按照上述方式计算标记细胞的半径,获得标记细胞的完整半径数据,细胞的尺寸测量完成。
2.根据权利要求1所述的一种无透镜成像系统的细胞尺寸测量装置的测量方法,其特征在于,所述步骤3中将成像数据经PCB电路板(5)导出具体为将成像数据经PCB电路板(5)存储于存储设备中,存储设备将成像数据导入计算机。
3.根据权利要求1所述的一种无透镜成像系统的细胞尺寸测量装置的测量方法,其特征在于,所述步骤4)具体按照以下步骤实施:
步骤4.1)将步骤3)导出的成像数据转化为灰度图像;
步骤4.2)利用matlab软件对灰度图像求灰度值统计图,即灰度直方图,根据灰度直方图中灰度值的分布情况确定细胞灰度分割阈值,然后采用阈值分割,将目标细胞与背景区分开,得到二值化图像;
步骤4.3)利用形状模板在整幅二值化图像中进行扫描,对扫描到与形状模板匹配的细胞记录其在二值化图像中的位置坐标;
步骤4.4)根据记录的位置坐标标记出二值化图像中的细胞,得到标记细胞;
步骤4.5)将标记细胞对应的衍射环由近及远依次标记为第一衍射环,第二衍射环,第三衍射环,……,第N衍射环,N是不为0的自然数。
4.根据权利要求1所述的一种无透镜成像系统的细胞尺寸测量装置的测量方法,其特征在于,所述步骤5具体按照一下步骤实施:
步骤5.1)取衍射发生平面即细胞边缘的平面为xoy平面,细胞边缘切线为y轴,位于xoy平面内切垂直于y轴并过切点的直线为x轴,观察点与光源点的连线与z轴的夹角为δ,切点与原点距离为x,构建坐标系;根据光照强度计算式,
I(P)=|U(P)|2=B2(C2+S2) (10)
式(10)中,I表示个光照强度,U为光强扰动函数,P表示标记细胞,B、C、S均为参数式,C、S均为菲涅尔积分,且
式(11)中,τ为积分路线,w为C、S的参数,且
式(12)中,r'为发生衍生的平面到观察点的距离,s'为发生衍生的平面到光源(2)的距离,s'、x、δ均可测量获得;
将式(12)代入式(11)中,得到C(w)、S(w)的表达式;
将C(w)、S(w)的表达式代入式(10)中,同时将B的计算式代入式(10),由于二值化图像中光照强度已知,计算可得r',其中,
式(13)中,A表示振幅,λ为光的波长,k为系数且i为虚数;
步骤5.2)根据下式计算直边菲涅尔衍射图样的强度,
式(14)中,I0为计算参数,且
通过式(14)的计算结果得到强度分布图,测量强度分布图第N个波峰与原点的距离d’,则在初始测量方向标记细胞的半径R=d-d';
步骤5.3)将初始测量方向等偏转角偏转一周,每次偏转0.001°~1°,每次偏转后按照步骤5.1)~步骤5.2)的方式计算各偏转方向上的标记细胞半径,获得标记细胞的完整半径数据,细胞的尺寸测量完成。
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