[发明专利]确定几何形状校准的方法和设备和确定关联数据的方法

权利要求书

1.一种用于确定用于成像设备(20)的几何形状校准的方法(300)，其中在透射成像中，辐射在穿过3D校准体模(10)之后射在2D探测器(23)上，用于创建所述3D校准体模(10)的2D透射图像，其中所述3D校准体模(10)具有至少一个校准对象(100)，所述校准对象具有预定数量的物理校准元件(102，104，106，108)，所述物理校准元件空间设置成，使得基于空间设置的描述符在透射成像的条件下是投影不变的，其中所述物理校准元件(112，114，116，118)具有如下材料，所述材料对于辐射是不透明的和/或所述材料吸收或散射辐射，

其中所述方法具有：

-提供(320)所述2D透射图像，在所述2D透射图像中示出所述3D校准体模的至少一个校准对象；

-将在所述2D透射图像中识别出的校准元件与所述3D校准体模的物理校准元件关联(322)；

-提供(324)用于几何形状校准的3D布置数据，所述3D布置数据表征所述物理校准元件的3D布置；和

-基于所述3D布置数据、与所述物理校准元件相关联的并且在所述2D透射图像中识别出的校准元件和识别出的校准元件的2D布置为所述2D透射图像确定(328)所述几何形状校准的投影数据；

其中所述关联(322)具有：

-识别(222)在所述2D透射图像中示出的物理校准元件(102，104，106，108)，用于确定在所述2D透射图像中识别出的校准元件和其2D布置；

-确定(224)识别出的校准元件的子集，所述子集的校准元件的数量分别对应于所述至少一个校准对象(100)的物理校准元件(102，104，106，108)的预定的数量；

-针对各子集分别计算(226)关于所述校准元件的描述符；和

-通过如下方式确定(238)关联数据：将每子集的识别出的校准元件与所述至少一个校准对象(100)的下述物理校准元件(102，104，106，108)相关联，对于所述物理校准元件而言，计算出的描述符和关于所述物理校准元件的描述符彼此偏差最小；

和其中所述方法(300)还具有：

-提供(330)关于所述3D校准体模的附加的视角的一个或多个附加的2D透射图像；

-将在相应的附加的2D透射图像中识别出的校准元件与所述3D校准体模的物理校准元件相应地关联(332)；和

-提供(324)所述3D布置数据并且为各2D透射图像通过如下方式确定(328)几何形状校准的相应的投影数据：将所述3D布置数据建模(334)，使得借助所述3D布置数据，使在用于相应的2D透射图像的相应的子集的识别出的校准元件的计算出的描述符与所述物理校准元件的相应的描述符之间的偏差最小化。

2.根据权利要求1所述的方法(300)，

对此所述3D校准体模(10)具有多个校准对象，其中所述至少一个校准对象(100)和其他校准对象(110，120)分别是所述多个校准对象的一部分，并且其中所述多个校准对象中的校准对象分别具有预定数量的物理校准元件，所述物理校准元件空间设置成，使得基于空间设置的描述符在透射成像的条件下是投影不变的，并且其中所述描述符是强描述符，所述多个校准对象分别经由所述强描述符单义地标识；其中：

-针对所述多个校准对象中的校准对象的物理校准元件相应地执行所述关联(322)；和所述关联(322)具有：

-基于所述强描述符标识所述多个校准对象中的各个校准对象。

3.根据权利要求1或2所述的方法(300)，

为此所述至少一个校准对象(100)具有四个物理校准元件(102，104，106，108)，所述物理校准元件至少沿着第一直线空间设置，其中：

所述描述符具有识别出的校准元件至少沿着2D直线的布置以及用于识别出的校准元件相互间的间距的交比；

-在确定(224)所述子集时确定如下子集，在所述子集中相应的子集的四个识别出的校准元件在所述2D透射图像中至少沿着2D直线设置；和

-还分别借助于用于四个识别出的校准元件相互间的间距的交比来计算各子集的所述描述符。