[发明专利]一种基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法及装置

说明书

本发明公开一种基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法及装置。测试定位的方法使用开缝同轴与不同的互调测试仪组合连接，该开缝同轴的外导体上形成开缝作为载波发射及互调接收窗口，利用该开缝同轴与互调测试仪连接实现载波发射及互调信号接收，将载波发射端口及互调接收端口作为物理参考点，以该物理参考点实现互调异常点的功率测量的相对位置预测。本发明能提高互调测试的准确性和效率。

技术领域

本发明涉及微波电路器件检测技术领域，特别是涉及基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法及装置。

背景技术

两个或两个以上的载波信号经过具有非线性响应的部件时，会产生不同于载波频率的新信号，此现象称为无源互调。无源互调(passive intermodulation PIM)是指两个或两个以上频率的发射载波在无源非线性器件中混合而产生的杂散信号，其已经对现代大功率、多通道通信系统造成干扰。

目前用于无源互调辐射场测试的方法主要基于天线对结构,使用载波天线对待测件进行照射,使用另一个具有选择特性的接收天线来接收待测件辐射出来的互调信号,通过用接收天线接收到的互调电平和背景电平比较，实现互调功率电平的测试及互调功率点的定位。而在此方法实际操作过程中，存在如下问题:

1.为区分待测件互调源点,实际的天线往往是高增益窄带天线,使得测试带宽受限，在更换频带后，测试天线也需要相应更换，引入多次天线连接之间的不确定性。

2.对于特殊结构的金属待测件，由于待测件结构的奇异性，使得载波照射困难。诸如具有电磁场屏蔽作用和频率选择作用的带有隔离及谐振结构，使得载波无法全功率馈入，进而造成个别异常非线性源点无法被甄别。

3.目前的PIM分析仪是将信号放大部分与微弱信号检测部分结合，使得占用的大信号源无法被复用，造成仪器资源的浪费。

发明内容

本发明的目的是为克服现有基于天线辐射场的无源互调测试的窄带、空气衰减及载波照射困难问题，而提供基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法及装置，以提高互调测试的准确性和效率。

为实现本发明的目的所采用的技术方案是：

一种基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法，使用开缝同轴与不同的互调测试仪组合连接，该开缝同轴的外导体上形成开缝作为载波发射及互调接收窗口，利用该开缝同轴与互调测试仪连接实现载波发射及互调信号接收，将载波发射端口及互调接收端口作为物理参考点，以该物理参考点实现互调异常点的功率测量的相对位置预测。

优选的，使用卡扼结构通过紧固螺钉实现与待测端面连接，通过控制开缝的大小和形状，实现对待测端面的电磁辐射强度和方向控制。

其中，所述开缝同轴分为单端开缝同轴以及周期性开缝同轴；

所述单端开缝同轴端接匹配低互调负载或使用距离最近段的开缝1/4波长的短路面，制成辐射及接收探头，作为开缝同轴探头使用，通过移动窗口位置能改变载波照射区；

所述周期性开缝同轴和单端开缝同轴单独或结合使用，通过与不同的互调测试仪组合连接，实现接触式PIM测试。

优选的，所述单端开缝同轴接入单端口反射互调测试仪，使得单端开缝同轴即可同时实现载波发射和互调信号接收功能；所述周期性开缝同轴和单端开缝同轴结合，或是两个根据周期性开缝同轴组合形成双根开缝同轴结合使用时，其中一根用于载波发射，另一根用于接收检测互调信号。

优选的，使用一端接入大功率低互调负载的一端且一段开缝的同轴，作为载波发射及互调接收探头，接于单端口反射互调测试仪上，通过移动开缝位置，改变载波照射位置实现对互调异常点的功率值的测试和异常点的定位。