[发明专利]一种基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910383823.X 申请日: 2019-05-09
公开(公告)号: CN110221142B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 陈雄 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 代理人: 韩新城
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 无源 辐射 非线性 测试 定位 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法,其特征在于,使用开缝同轴与不同的互调测试仪组合连接,该开缝同轴的外导体上形成开缝作为载波发射及互调接收窗口,利用该开缝同轴与互调测试仪连接实现载波发射及互调信号接收,将载波发射端口及互调接收端口作为物理参考点,以该物理参考点实现互调异常点的功率测量及相对位置预测;

所述开缝同轴分为单端开缝同轴以及周期开缝同轴;

所述单端开缝同轴端接匹配低互调负载或使用距离最近段的开缝1/4波长的短路面,制成辐射及接收探头,作为开缝同轴探头使用,通过移动窗口位置能改变载波照射区;

所述周期开缝同轴和单端开缝同轴单独或结合使用,通过与不同的互调测试仪组合连接,实现接触式无源互调测试;

其中,在使用一根开缝同轴实现对互调异常点定位时,使用一根周期开缝同轴作为载波发射及互调接收同轴,两端接于传输和反射互调测试仪上,沿疑似互调异常点铺设,通过读取传输和反射互调值的差值,与测试之前的校准值比对,并基于下式实现对互调异常点的定位:

式中,PIM'r,PIM'f分别表示测试前使用校准辐射无源互调源置于开缝同轴两端第一个开缝处所读取显示的反射功率值与传输互调功率值,PIMf为测试过程中读取的传输互调功率值,PIMr为测试过程中读取的反射功率值,lf,lr分别表示互调异常点相对于传输测试端口的距离,以及相对于反射测试端口的距离,ltot表示开缝同轴总长度。

2.如权利要求1所述基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法,其特征在于,通过紧固螺钉实现卡扼结构内侧所形成的端接测试面与待测端面连接,通过控制开缝的大小和形状,实现对待测端面的电磁辐射强度和方向控制。

3.如权利要求1所述基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法,其特征在于,单独使用单端开缝同轴时,所述单端开缝同轴接入单端口反射互调测试仪,使得单端开缝同轴即可同时实现载波发射和互调信号接收功能;

单独使用周期开缝同轴时,其中一根周期开缝形成基于泄露同轴的辐射阵列,用于载波发射,另一根周期开缝形成基于泄露同轴的接收阵列,用于接收检测互调信号;

所述周期开缝同轴和单端开缝同轴结合时,所述周期开缝同轴连接于双模式互调测试仪的反射互调测试端口,所述单端开缝同轴连接于双模式互调测试仪的传输互调测试端口。

4.如权利要求1所述基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法,其特征在于,使用单端开缝的同轴作为载波发射及互调接收探头,所述开缝的同轴的一端接入大功率低互调负载的一端、另一端接于单端口反射互调测试仪上,通过移动开缝位置,改变载波照射位置实现对互调异常点的功率值的测试和异常点的定位。

5.如权利要求1所述基于无源互调辐射场的非线性测试定位的方法,其特征在于,使用一根周期开缝同轴作为载波接收同轴,接于传输和反射互调测试仪的反射互调测试端口上,沿疑似互调异常点铺设;使用另一根单端开缝的开缝同轴探头沿疑似互调异常点扫描,将所测的传输互调值与反射互调值进行比对,通过传输互调值的波动,实现对互调异常点的功率值的测试和异常点的定位。

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