[发明专利]显示装置、用于测试显示装置的设备和方法在审

专利信息
申请号: 201910379984.1 申请日: 2019-05-08
公开(公告)号: CN110459152A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 金孝中;金埈焕;朴锺宇;崔大根;孙在植;崔荣太 申请(专利权)人: 三星显示有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 程月;尹淑梅<国际申请>=<国际公布>=
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 非显示区域 虚设 薄膜晶体管 弯曲区域 显示区域 基底 测试显示装置 虚设栅电极 显示装置 测试垫 电连接 漏电极 源电极 叠置 绝缘 横跨
【权利要求书】:

1.一种显示装置,所述显示装置包括:

第一基底,具有限定在所述第一基底上的显示区域和非显示区域,所述非显示区域设置在所述显示区域的外侧上;

多个测试垫,设置在所述非显示区域中;以及

第一虚设薄膜晶体管,设置在所述非显示区域中并且电连接到所述测试垫,

其中,所述第一虚设薄膜晶体管包括:虚设栅电极;以及虚设源电极和虚设漏电极,与所述虚设栅电极绝缘并且彼此间隔开,

其中,所述第一基底上限定有弯曲区域,所述弯曲区域至少部分地横跨所述显示区域和所述非显示区域,并且

其中,所述第一虚设薄膜晶体管与所述弯曲区域叠置。

2.根据权利要求1所述的显示装置,所述显示装置还包括第二虚设薄膜晶体管,所述第二虚设薄膜晶体管与所述第一虚设薄膜晶体管相邻设置。

3.根据权利要求2所述的显示装置,其中,所述第一虚设薄膜晶体管中限定有穿过所述虚设源电极和所述虚设漏电极的第一参考线,

其中,所述第二虚设薄膜晶体管中限定有第二参考线,并且

其中,所述第一参考线和所述第二参考线在不同的方向上延伸。

4.根据权利要求3所述的显示装置,其中,所述第一参考线垂直于所述第二参考线。

5.根据权利要求3所述的显示装置,其中,所述测试垫包括:

第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫,连接到所述第一虚设薄膜晶体管,以及

第四测试垫、第五测试垫和第六测试垫,连接到所述第二虚设薄膜晶体管。

6.根据权利要求5所述的显示装置,其中,所述第一虚设薄膜晶体管和所述第二虚设薄膜晶体管设置在所述第一测试垫至所述第三测试垫与所述第四测试垫至所述第六测试垫之间,

其中,所述第一测试垫、所述第二测试垫和所述第三测试垫平行布置,并且

其中,所述第四测试垫、所述第五测试垫和所述第六测试垫平行布置。

7.根据权利要求3所述的显示装置,所述显示装置还包括:

第三虚设薄膜晶体管,在所述第三虚设薄膜晶体管中限定有第三参考线;以及

第四虚设薄膜晶体管,在所述第四虚设薄膜晶体管中限定有第四参考线,

其中,所述第一参考线、所述第二参考线、所述第三参考线和所述第四参考线在不同的方向上延伸。

8.根据权利要求1所述的显示装置,所述显示装置还包括柔性印刷电路板,所述柔性印刷电路板连接到所述第一基底的所述非显示区域,

其中,所述第一虚设薄膜晶体管与所述柔性印刷电路板叠置。

9.根据权利要求1所述的显示装置,所述显示装置还包括虚设半导体图案层,所述虚设半导体图案层与所述虚设栅电极、所述虚设漏电极和所述虚设源电极叠置。

10.根据权利要求1所述的显示装置,其中,多个像素形成在所述显示区域中,

其中,所述多个像素中的每个像素包括至少一个开关元件,并且

其中,所述至少一个开关元件具有与所述第一虚设薄膜晶体管的形状相同的形状。

11.一种用于测试显示装置的设备,所述设备包括:

测试电路膜,连接到第一基底,所述第一基底具有限定在所述第一基底上的显示区域和非显示区域,其中,所述非显示区域设置在所述显示区域的外侧上,并且所述第一基底包括设置在所述非显示区域中的第一虚设薄膜晶体管以及连接到所述第一虚设薄膜晶体管的多个测试垫;

连接垫,形成在所述测试电路膜的一侧上并且分别电连接到所述测试垫;以及

测量仪,连接到所述测试电路膜,

其中,所述第一基底上限定有弯曲区域,所述弯曲区域至少部分地横跨所述显示区域和所述非显示区域,

其中,所述第一虚设薄膜晶体管与所述弯曲区域叠置,并且

其中,所述测量仪检查所述弯曲区域对所述第一虚设薄膜晶体管的影响。

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