[发明专利]屏幕长截图的方法、终端及存储介质

说明书

本发明实施例公开一种屏幕长截图的方法、终端及存储介质，该方法包括以下步骤：比对第一全屏截图与第二全屏截图，计算第二全屏截图相对于第一全屏截图的位移；根据位移获取第一全屏截图与第二全屏截图之间的衔接线；通过预设校验高度对衔接线进行比对校验，仅在比对校验通过时，通过衔接线对第一全屏截图与第二全屏截图进行拼接，得到屏幕长截图。本发明实施例通过增加校验机制来判断当前拼接的图片是否正确，以减少长截图拼接错误的情况出现。

技术领域

本发明实施例涉及终端图片处理技术领域，尤其涉及一种屏幕长截图的方法、终端及存储介质。

背景技术

众所周知，屏幕长截图主要依靠对图像的分析将不同屏幕中显示的内容最终合成为一张长图的过程，为了使长图内容得到大众认知下应该显示的内容，需要使用到图像分析的算法辅助完成。当前长截图的实现主要通过模板匹配算法来完成，模板就是一幅已知的小图像，模板匹配就是在一幅大图像中搜寻目标，已知该图中有要找的目标，且该目标同模板有相同的尺寸、方向和图像，通过一定的算法可以在图中找到目标，确定其坐标位置，以得到前后两张全屏截图之间的衔接线，基于该衔接线便可实现对前后两张全屏截图的拼接，得到屏幕长截图。然而，在实际使用中，我们发现，这种屏幕长截图实现方式存在一个问题，其严重依赖算法获取两张图片的相对位移，而有时相对位移会计算错误，导致拼接图片出错，且没有办法及时修正。

发明内容

本发明实施例的主要目的在于提出一种屏幕长截图的方法、终端及存储介质，旨在解决现有屏幕长截图方式，若在获取拼接的两张截图之间的相对位移时出现计算错误，会导致拼接图片出错、无法及时修正的技术问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供一种屏幕长截图的方法，所述方法包括以下步骤：比对第一全屏截图与第二全屏截图，计算所述第二全屏截图相对于所述第一全屏截图的位移；根据所述位移获取所述第一全屏截图与所述第二全屏截图之间的衔接线；通过预设校验高度对所述衔接线进行比对校验，仅在所述比对校验通过时，通过所述衔接线对所述第一全屏截图与所述第二全屏截图进行拼接，得到屏幕长截图。

可选地，所述比对第一全屏截图与第二全屏截图，计算所述第二全屏截图相对于所述第一全屏截图的位移的步骤之前，还包括：截取屏幕滑动前的屏幕界面来获取所述第一全屏截图，截取屏幕滑动后的屏幕界面来获取所述第二全屏截图。

可选地，所述比对第一全屏截图与第二全屏截图，计算所述第二全屏截图相对于所述第一全屏截图的位移的步骤具体包括：将所述第二全屏截图沿屏幕纵向依次均分为第一区域、第二区域、第三区域以及第四区域；通过模板匹配算法比对所述第一全屏截图与所述第二区域，找出所述第二区域在所述第一全屏截图中出现的位置，以计算出所述位移。

可选地，所述衔接线包括第一衔接线与所述第二衔接线，所述第一衔接线位于所述第一全屏截图，所述第二衔接线位于所述第二全屏截图，所述根据所述位移获取所述第一全屏截图与所述第二全屏截图之间的衔接线的步骤具体包括：通过所述第一全屏截图的高度减去所述位移，以获取所述第一衔接线的所在位置；通过所述第二全屏截图的高度减去所述第一区域的高度，以获取所述第二衔接线的所在位置。

可选地，所述通过预设校验高度对所述衔接线进行比对校验的步骤具体包括以所述预设校验高度为基准，分别划出所述第一衔接线的比对范围与所述第二衔接线的比对范围；通过模板匹配算法对所述第一衔接线的比对范围所包括的内容与所述第二衔接线的比对范围所包括的内容进行比对，以实现对所述衔接线的比对校验。

可选地，所述第一衔接线的比对范围为所述第一衔接线的所在位置往上推移所述预设校验高度至所述第一衔接线的所在位置往下推移所述预设校验高度；所述第二衔接线的比对范围为所述第二衔接线的所在位置往上推移所述预设校验高度至所述第二衔接线的所在位置往下推移所述预设校验高度。