[发明专利]屏幕长截图的方法、终端及存储介质

权利要求书

1.一种屏幕长截图的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

比对第一全屏截图与第二全屏截图，计算所述第二全屏截图相对于所述第一全屏截图的位移；

根据所述位移获取所述第一全屏截图与所述第二全屏截图之间的衔接线；

通过预设校验高度对所述衔接线进行比对校验，仅在所述比对校验通过时，通过所述衔接线对所述第一全屏截图与所述第二全屏截图进行拼接，得到屏幕长截图；

所述比对第一全屏截图与第二全屏截图，计算所述第二全屏截图相对于所述第一全屏截图的位移的步骤具体包括：

将所述第二全屏截图沿屏幕纵向依次均分为第一区域、第二区域、第三区域以及第四区域；

通过模板匹配算法比对所述第一全屏截图与所述第二区域，找出所述第二区域在所述第一全屏截图中出现的位置，以计算出所述位移；

所述衔接线包括第一衔接线与第二衔接线，所述第一衔接线位于所述第一全屏截图，所述第二衔接线位于所述第二全屏截图，所述根据所述位移获取所述第一全屏截图与所述第二全屏截图之间的衔接线的步骤具体包括：

通过所述第一全屏截图的高度减去所述位移，以获取所述第一衔接线的所在位置；

通过所述第二全屏截图的高度减去所述第一区域的高度，以获取所述第二衔接线的所在位置；

所述通过预设校验高度对所述衔接线进行比对校验，仅在所述比对校验通过时，通过所述衔接线对所述第一全屏截图与所述第二全屏截图进行拼接，得到屏幕长截图的步骤之后，还包括：

若所述比对校验没有通过，则通过备用方案重新计算所述第二全屏截图相对于所述第一全屏截图的位移，并获取新衔接线，以在所述新衔接线通过所述比对校验后，通过所述新衔接线对所述第一全屏截图与所述第二全屏截图进行拼接，得到屏幕长截图。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述比对第一全屏截图与第二全屏截图，计算所述第二全屏截图相对于所述第一全屏截图的位移的步骤之前，还包括：

截取屏幕滑动前的屏幕界面来获取所述第一全屏截图，截取屏幕滑动后的屏幕界面来获取所述第二全屏截图。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过预设校验高度对所述衔接线进行比对校验的步骤具体包括：

以所述预设校验高度为基准，分别划出所述第一衔接线的比对范围与所述第二衔接线的比对范围；

通过模板匹配算法对所述第一衔接线的比对范围所包括的内容与所述第二衔接线的比对范围所包括的内容进行比对，以实现对所述衔接线的比对校验。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一衔接线的比对范围为所述第一衔接线的所在位置往上推移所述预设校验高度至所述第一衔接线的所在位置往下推移所述预设校验高度；所述第二衔接线的比对范围为所述第二衔接线的所在位置往上推移所述预设校验高度至所述第二衔接线的所在位置往下推移所述预设校验高度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述备用方案具体包括以下步骤：

将所述第二全屏截图沿屏幕纵向依次均分为第五区域、第六区域、第七区域、第八区域以及第九区域，所述第六区域与所述第七区域合在一起形成比对区域；

通过模板匹配算法比对所述第一全屏截图与所述比对区域，找出所述比对区域在所述第一全屏截图中出现的位置，以计算出所述位移。

6.一种终端，其特征在于，包括：存储器、处理器、存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序以及用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信的数据总线，所述程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-5任一所述的方法的步骤。

7.一种存储介质，用于计算机可读存储，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1-5任一所述的方法的步骤。