[发明专利]硬件状态分析方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种硬件状态分析方法，其特征在于，所述方法包括：

获取正电子发射型计算机断层显像PET系统初始状态下的第一辐射计数数据；

获取所述PET系统工作预设时长后的第二辐射计数数据；

将所述第一辐射计数数据和所述第二辐射计数数据输入至预设的神经网络中，得到所述PET系统的硬件状态分析数据；所述PET系统的硬件状态分析数据用于预测预设工作时长之后的辐射计数数据、初始状态的辐射计数数据和扫描图像的均匀性数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述神经网络包括第一子神经网络和第二子神经网络；

则所述将第一辐射计数数据和第二辐射计数数据输入至预设的神经网络的中，得到PET系统的硬件状态分析数据，包括：

将所述第一辐射计数数据输入至所述第一子神经网络，得到所述第一辐射计数数据对应的预设工作时长后的辐射计数数据；

将所述第二辐射计数数据输入至所述第一子神经网络，得到所述第二辐射计数数据对应的标准辐射计数数据；

将所述第二辐射计数数据输入至所述第二子神经网络，得到所述第二辐射计数数据对应的扫描图像的均匀性数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述PET系统在初始状态下的多第一样本辐射计数数据和多个工作预设时长后的第二样本辐射计数数据；

将各所述第一样本辐射计数数据作为输入、各所述第二样本辐射计数数据作为输出，和将各所述第二样本辐射计数数据作为输入、各所述第一样本辐射计数数据作为输出，训练第一子神经网络初始网络模型，得到所述第一子神经网络。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述PET系统在工作预设时长后的多个第二样本辐射计数数据、和各所述第二样本辐射计数数据对应扫描图像的均匀性数据；

将各所述第二样本辐射计数数据作为输入，各所述第二样本辐射计数数据对应扫描图像的均匀性数据作为输出，训练第二子神经网络初始网络模型，得到所述第二子神经网络。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述采集各所述第二样本辐射计数数据对应扫描图像的均匀性数据，包括：

获取各所述第二样本辐射计数数据对应的桶源数据；

将所述桶源数据进行图像重建得到所述扫描图像的均匀性数据。

6.根据权利要求1-5所述的方法，其特征在于，所述第一辐射计数数据和所述第二辐射计数数据均包括所述PET系统棒源上的单事件数据和桶源上的符合事件数据；所述单事件数据包括强度分布信息及能量分布信息；所述符合事件数据包括强度分布信息及飞行时间分布信息。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，采集所述棒源的单事件数据时，所述棒源位于所述PET系统的视野中央。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，采集所述桶源的符合事件数据时，所述桶源位于所述PET系统轴心的视野中央；所述PET系统轴心与所述棒源的轴心重合。

9.一种硬件状态分析装置，其特征在于，所述装置包括：

第一数据获取模块，用于获取正电子发射型计算机断层显像PET系统初始状态下的第一辐射计数数据；

第二数据获取模块，用于获取所述PET系统工作预设时长后的第二辐射计数数据；

分析数据预测模块，用于将所述第一辐射计数数据和所述第二辐射计数数据输入至预设的神经网络的中，得到所述PET系统的硬件状态分析数据；所述PET系统的硬件状态分析数据用于预测预设工作时长之后的辐射计数数据、初始状态的辐射计数数据和扫描图像的均匀性数据。

10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8中任一项所述方法的步骤。