[发明专利]定标数据修正方法及其电子设备

权利要求书

1.一种比浊法的定标数据修正方法，其特征在于，包括：

接收由若干反应数据组成的原始数据集合；

通过线性拟合对原始数据集合进行初次筛选，获得初筛数据集合；

通过非线性拟合对初筛数据集合进行二次筛选，获得修正数据集合；

所述线性拟合的拟合能力低于所述非线性拟合；

所述通过非线性拟合对初筛数据集合进行二次筛选，获得修正数据集合，具体包括：

使用与反应规律相符的函数，对所述初筛数据集合中的反应数据进行曲线拟合，获得对应的拟合曲线；

判断所述拟合曲线是否符合预设的第二筛选终止标准；

若是，结束所述初筛数据集合的二次筛选；若否，去除所述初筛数据集合中的异常反应数据并重新进行曲线拟合；

所述通过线性拟合对原始数据集合进行初次筛选，获得初筛数据集合，具体包括：

对输入的反应数据进行线性拟合，获得对应的直线方程；

确定每一个所述反应数据与所述直线方程之间的偏差；

根据所述偏差，筛除一个或者多个不符合反应规律的反应数据；

所述根据所述偏差，筛除一个或者多个不能反应规律的第一反应数据，具体包括：

判断是否符合预设的第一筛选终止标准；

若是，结束对所述原始数据集合的初次筛选；若否，去除偏差最大的反应数据并重新进行线性拟合。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对输入的反应数据进行线性拟合，获得对应的直线方程，具体包括：

通过线性最小二乘法，拟合获得自变量为测量时刻，因变量为散射光强度的直线方程；所述反应数据为在选定的测量时刻采样获得的实际散射光强度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定每一个所述反应数据与所述直线方程之间的偏差，具体包括：

通过所述直线方程，获得在不同测量时刻的第一理论散射光强度；

计算在同一测量时刻的第一理论散射光强度和实际散射光强度之间差值的绝对值作为所述反应数据与所述直线方程之间的偏差。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一筛选终止标准包括：

最大偏差与所述原始数据集合的实际散射光强度变化范围的比值小于预设的第一阈值，以及

最大偏差与所述原始数据集合中所有反应数据的偏差的标准差的比值小于预设的第二阈值；

所述最大偏差为：所述反应数据与所述直线方程之间的偏差中的最大值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述去除所述初筛数据集合中的异常反应数据，具体包括：

通过所述拟合曲线，获得在不同测量时刻的第二理论散射光强度；

计算在同一测量时刻的第二理论散射光强度和实际散射光强度之间差值的绝对值，所述反应数据为在选定的测量时刻采样获得的实际散射光强度；

去除所述绝对值最大的反应数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二筛选终止标准为所述第二理论散射光强度与所述实际散射光强度之间的相关系数大于预设的系数阈值。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器以及存储器；所述存储器存储有计算机可执行程序指令，以使所述处理器在调用所述计算机可执行程序指令时，执行如权利要求1-6任一项所述的定标数据修正方法，去除输入的原始数据集合中的一个或者多个反应数据以获得修正数据集合，并且基于所述修正数据集合，完成比浊法的定标过程。