[发明专利]PLC主控模块测试方法、装置、系统和计算机设备

说明书

本申请涉及一种PLC主控模块测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取测试项，并基于测试项，向待测PLC主控模块组发送配置数据包，配置数据包用于使待测PLC主控模块组进入与测试项对应的测试模式，待测PLC主控模块组包括至少两个待测PLC主控模块；在测试信号经待测PLC主控模块组传输的过程中，获取与测试项对应的测试数据；基于测试数据，确定与测试项对应的测试结果。采用本方法无需借助第三方模块即可对PLC主控模块进行测试，连接线路简单，且可实现一次两个模块同步测试，提高效率。

技术领域

本申请涉及PLC检测技术领域，特别是涉及一种PLC主控模块测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。

背景技术

PLC(可编程逻辑控制器)作为一种工业控制器，在工业控制领域具有极为重要的地位，随着科学技术的日新月异和智能制造战略的提出，其发展趋势与应用越加受到人们的重视。当代PLC的发展要求向网络化、模块化、智能化、编程语言和工具的多样化和标准化进发。PLC由于其具有控制方式灵活、编程简单、结构紧凑简单、易于施加控制、可靠性高、抗干扰能力强等特点被大量用于工业领域中的自动化控制，要求在出产前对PLC各模块进行检测。

目前对于PLC主控模块的测试基本采用一套完整系统，将主控模块接入其中嵌套测试，没有单独对主控模块进行测试的方案。采用完整系统测试的方案需要借助的第三方工具或模块过多，连接线路复杂，测试过程繁琐。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种PLC主控模块测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。

一种PLC主控模块测试方法，所述方法包括：

获取测试项，并基于所述测试项，向待测PLC主控模块组发送配置数据包，所述配置数据包用于使所述待测PLC主控模块组进入与所述测试项对应的测试模式；所述待测PLC主控模块组包括至少两个待测PLC主控模块；

在测试信号经所述待测PLC主控模块组传输的过程中，获取与所述测试项对应的测试数据；

基于所述测试数据，确定与所述测试项对应的测试结果。

一种PLC主控模块测试装置，所述装置包括：

配置数据包发送模块，用于获取测试项，并基于所述测试项，向待测PLC主控模块组发送配置数据包，所述配置数据包用于使所述待测PLC主控模块组进入与所述测试项对应的测试模式；所述待测PLC主控模块组包括至少两个待测PLC主控模块；

测试数据获取模块，用于在测试信号经所述待测PLC主控模块组传输的过程中，获取与所述测试项对应的测试数据；

测试数据分析模块，用于基于所述测试数据，确定与所述测试项对应的测试结果。

一种PLC主控模块测试系统，所述系统包括：

至少两个待测模块通信模块，每个所述待测模块通信模块与待测PLC主控模块连接；至少一个所述待测模块通信模块与上位机连接，所述待测模块通信模块将所述上位机的测试项信号传输至所述待测PLC主控模块，所述测试项信号用于使所述待测PLC主控模块进入与所述测试项对应的测试模式；

所述待测PLC主控模块的测试数据经由所述待测模块通信模块上传至所述上位机；由所述上位机基于所述待测PLC主控模块的测试数据、以及对应的相关测试数据，确定与所述测试项对应的测试结果；所述相关测试数据包括所述上位机与所述待测PLC主控模块的串口通信数据，或者与所述待测PLC主控模块的测试数据对应的设定数据。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：