[发明专利]一种坩埚组件及长晶炉在审
| 申请号: | 201910208143.4 | 申请日: | 2019-03-19 |
| 公开(公告)号: | CN109868503A | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
| 发明(设计)人: | 夏秋良;范雪峰 | 申请(专利权)人: | 苏州新美光纳米科技有限公司 |
| 主分类号: | C30B15/12 | 分类号: | C30B15/12;C30B29/06 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 胡蓉 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 坩埚组件 石墨坩埚 石英坩埚 长晶炉 隔离层 单晶硅棒 提拉 晶体生长设备 加热器 接触反应 使用寿命 旋转机构 氧化侵蚀 环设 炉体 碳氧 籽晶 堆积 阻隔 容纳 体内 外部 | ||
一种坩埚组件及长晶炉,涉及晶体生长设备技术领域。该坩埚组件包括石英坩埚、石墨坩埚以及隔离层,石英坩埚设于石墨坩埚内,隔离层设于石英坩埚与石墨坩埚之间,隔离层用于阻隔石英坩埚与石墨坩埚发生接触反应。该长晶炉包括炉体、用于提拉和旋转籽晶的提拉旋转机构,以及上述的坩埚组件,坩埚组件位于炉体内,长晶炉还包括环设于坩埚组件的石墨坩埚外部的加热器,其中,坩埚组件的石英坩埚内用于容纳原料。该坩埚组件能够降低石墨坩埚的氧化侵蚀速度,进而增加了石墨坩埚的使用寿命,同时降低了单晶硅棒内的碳氧堆积,提高了单晶硅棒的整体质量。
技术领域
本发明涉及晶体生长设备技术领域,具体而言,涉及一种坩埚组件及长晶炉。
背景技术
单晶硅,即硅的单晶体,是一种较活泼的非金属元素,具有基本完整的点阵结构,不同的方向具有不同的性质,是一种良好的半导体材料,是晶体材料的重要组成部分,处于新材料发展的前沿。主要是用作先进半导体晶圆芯片、传感器以及太阳能光伏发电、供热等方面,其利用高纯度的多晶硅在长晶炉内拉制而成。长晶炉是用于人工合成晶体的设备,是在惰性气体(氮气、氦气为主)环境中,用加热器将多晶硅等多晶材料熔化,用直拉法生长无错位单晶的设备。单晶硅主要的生产制程包括入料(将符合要求的多晶硅原材料装入长晶炉内)、抽真空、熔融(开启加热器)、长晶、退火、冷却及下货(取出晶硅)等步骤。
目前,长晶炉主要用于生产硅半导体材料和太阳能级硅材料,国内用于生产半导体晶圆、传感器和太阳能电池的主要材料-单晶硅棒就在长晶炉内拉制而成。其长晶过程需使用石英坩埚,石英坩埚外部采用石墨坩埚作为支撑和导热层,现有技术中的石英坩埚与石墨坩埚的组合如图1所示。由于石英坩埚主要成分为二氧化硅(SiO2),外部的石墨坩埚的成分为碳(C),在长晶过程的高温情况下(一般超过450℃),石英(SiO2)和石墨(C)会发生化学反应,生成碳氧化物,不仅使石墨坩埚被氧化侵蚀,同时,石英坩埚和石墨坩埚接触部分的氧化反应,使硅原子渗透到石墨坩埚的表层,形成一层碳硅结合层,引起坩埚断裂,这些都会造成石墨坩埚的使用寿命下降;而生成的碳氧化物进入到多晶硅熔融液或者已生长的单晶硅棒中,使得单晶硅棒内的碳氧堆积,影响单晶硅棒的整体质量。
如何降低石墨坩埚的氧化侵蚀速度,以延长石墨坩埚与石英坩埚的使用寿命是目前亟待解决的技术难题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种坩埚组件及长晶炉,其能够降低石墨坩埚的氧化侵蚀速度,进而增加了石墨坩埚的使用寿命,同时降低了单晶硅棒内的碳氧堆积,提高了单晶硅棒的整体质量。
本发明的实施例是这样实现的:
本发明实施例的一方面,提供一种坩埚组件,该坩埚组件包括石英坩埚、石墨坩埚以及隔离层,所述石英坩埚设于所述石墨坩埚内,所述隔离层设于所述石英坩埚与所述石墨坩埚之间,所述隔离层用于阻隔所述石英坩埚与所述石墨坩埚发生接触反应。其能够降低石墨坩埚的氧化侵蚀速度,进而增加了石墨坩埚的使用寿命,同时降低了单晶硅棒内的碳氧堆积,提高单晶硅棒的整体质量。
在本发明较佳的实施例中,所述隔离层的材质为碳化硅材料、氮化硅材料,或者碳化硅结合氮化硅材料中的任意一种。
在本发明较佳的实施例中,所述隔离层涂覆于所述石英坩埚的外壁上。
在本发明较佳的实施例中,所述隔离层涂覆于所述石墨坩埚的内壁上。
在本发明较佳的实施例中,所述隔离层包括多个子隔离部,多个所述子隔离部设于所述石英坩埚与所述石墨坩埚之间。
在本发明较佳的实施例中,所述子隔离部的截面形状为圆形或者多边形中的任意一种。
在本发明较佳的实施例中,多个所述子隔离部均布于所述石英坩埚与所述石墨坩埚之间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州新美光纳米科技有限公司,未经苏州新美光纳米科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910208143.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





