[发明专利]测试系统及其信号传输电路板

说明书

本申请公开了一种信号传输电路板，该信号传输电路板包括主体部和与主体部相连的第一连接部，第一连接部包括测试引脚区和与测试引脚区相邻的避让区，在避让区内不存在测试引脚。本申请还公开了一种测试系统。通过上述方式，本申请能够避免信号传输电路板对显示屏的驱动芯片连接部的损伤，提升产品良率。

技术领域

本发明涉及显示屏测试技术领域，特别是涉及一种测试系统及其信号传输电路板。

背景技术

随着科学技术的发展，显示屏已日渐成为人们生活的必需品，是各大厂商争相研发的焦点。

屏体测试(Cell test，CT)是对邦定(bonding)前的单个显示屏的屏体进行点屏检测及老化测试的步骤，可以在投入模组前筛选出显示不良的屏体。

现有电路板设计，为了实现功能集成通常包括多种功能引脚区，而屏体在CT测试过程中，复杂的的功能引脚区可能造成信号传输电路板对屏体的驱动芯片连接部造成损伤。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种测试系统及其信号传输电路板，能够降低在测试过程中信号传输电路板对屏体驱动芯片连接部的损伤，提升产品良率。

为解决上述技术问题，本申请实施例采用的一个技术方案是：提供一种信号传输电路板，该信号传输电路板包括主体部和与主体部相连的第一连接部，第一连接部包括测试引脚区和与测试引脚区相邻的避让区，在避让区内不存在测试引脚。

为解决上述技术问题，本申请实施例采用的另一个技术方案是：提供一种测试系统，该测试系统包括测试设备和用于连接测试设备与一显示屏的信号传输电路板，信号传输电路板为上述的信号传输电路板。

本申请实施例通过设置信号传输电路板包括主体部和与主体部相连的第一连接部，第一连接部包括测试引脚区和与测试引脚区相邻的避让区，在避让区内不存在测试引脚，避免了在测试过程中第一连接部将驱动芯片连接部压伤，使得在后续的邦定后驱动芯片与驱动芯片连接部能够形成良好的电接触，避免显示屏出现显示不良的问题(例如，显示屏出现显示亮线的问题)，进一步地，由于是对信号传输电路板的结构做出的改进，不需要改变显示屏的设计，在能够有效解决显示屏出现显示不良的情况下，可以节省成本。

附图说明

图1是本申请显示屏的第一实施例的结构示意图；

图2是本申请信号传输电路板的第一实施例的结构示意图；

图3是本申请实施例一种避让区的外轮廓的形状示意图；

图4是本申请实施例另一种避让区的外轮廓的形状示意图；

图5是本申请信号传输电路板的第二实施例的结构示意图；

图6是本申请信号传输电路板的第三实施例的结构示意图；

图7是本申请信号传输电路板的第四实施例的结构示意图；

图8是本申请显示屏的第二实施例的结构示意图；

图9是本申请信号传输电路板的第五实施例的结构示意图；

图10是本申请实施例的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。