[发明专利]一种NAND性能测试方法及其系统有效
| 申请号: | 201910111517.0 | 申请日: | 2019-02-12 |
| 公开(公告)号: | CN109817273B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
| 发明(设计)人: | 马越;冯元元;周晨杰 | 申请(专利权)人: | 记忆科技(深圳)有限公司 |
| 主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 冯筠 |
| 地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 nand 性能 测试 方法 及其 系统 | ||
1.一种NAND性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;
S2,将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NANDFlash的配置;
S3,在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NANDFlash进行读写操作,并进行读写性能测试;
S4,将各个配置下的性能数据反馈至上位机;
S5,由上位机将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。
2.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S1中,上位机按切换的NANDFlash模式要求,以XML的形式在算法构造出所需的命令包。
3.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S2中,命令包通过串口发送给NFC。
4.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S3还包括:NFC通过描述符对NANDFlash进行模式的切换。
5.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S4中,各个配置下的性能数据通过串口反馈至上位机。
6.根据权利要求1所述的一种NAND性能测试方法,其特征在于,所述S5中,上位机分析数据并进行各种模式性能比较,最终通过excel的图标进行展现各个模式组合下NANDFlash的性能。
7.一种NAND性能测试系统,其特征在于,包括构造单元,发送配置单元,读写单元,反馈单元,及数据处理单元;
所述构造单元,用于上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;
所述发送配置单元,用于将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NANDFlash的配置;
所述读写单元,用于在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作,并进行读写性能测试;
所述反馈单元,用于将各个配置下的性能数据反馈至上位机;
所述数据处理单元,用于由上位机将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。
8.根据权利要求7所述的一种NAND性能测试系统,其特征在于,所述构造单元中,上位机按切换的NANDFlash模式要求,以XML的形式在算法构造出所需的命令包。
9.根据权利要求7所述的一种NAND性能测试系统,其特征在于,所述发送配置单元中,命令包通过串口发送给NFC;所述读写单元还包括:NFC通过描述符对NANDFlash进行模式的切换。
10.根据权利要求7所述的一种NAND性能测试系统,其特征在于,所述反馈单元中,各个配置下的性能数据通过串口反馈至上位机;所述数据处理单元中,上位机分析数据并进行各种模式性能比较,最终通过excel的图标进行展现各个模式组合下NANDFlash的性能。
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