[发明专利]一种阻抗大数据自动分析及优化方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910098761.8 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN109815609B 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 傅宝林;杜红兵;纪成光;刘梦茹;肖璐 申请(专利权)人: 生益电子股份有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G07C3/00;G06F115/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;唐京桥
地址: 523127 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 阻抗 数据 自动 分析 优化 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种阻抗大数据自动分析及优化方法,其特征在于,包括:

阻抗大数据自动分析及优化系统中的阻抗模型建立模块,对接阻抗模拟软件,根据客户的阻抗设计要求,建立阻抗模型,并在数据管理平台输出理论参数表;

所述阻抗大数据自动分析及优化系统中的生产参数模块,收集生产过程中的实际生产参数,并对所述实际生产参数在所述数据管理平台进行统计分析,生成实际生产参数表;

所述阻抗大数据自动分析及优化系统中的阻抗模拟模块,将所述实际生产参数表反馈至所述阻抗模拟软件,使得所述阻抗模拟软件根据所述实际生产参数,模拟运算出与所述实际生产参数对应的阻抗模拟参数,生成阻抗模拟参数表;

所述阻抗大数据自动分析及优化系统中的异常分析模块,在所述数据管理平台中整合所述理论参数表、实际生产参数表和阻抗模拟参数表,并对各个参数进行异常分析及优化;

所述阻抗大数据自动分析及优化系统中的阻抗优化模块,根据优化后的参数,建立新的阻抗模型;

所述阻抗大数据自动分析及优化系统中的批量生产模块,按照所述新的阻抗模型进行批量产品的生产;

所述阻抗大数据自动分析及优化系统中的异常分析模块,在所述数据管理平台中整合所述理论参数表、实际生产参数表和阻抗模拟参数表,并对各个参数进行异常分析及优化包括:

所述异常分析模块整合所述理论参数表、实际生产参数表和阻抗模拟参数表;

所述异常分析模块将所述实际生产参数表中的实际阻抗值与阻抗模拟参数表中的模拟阻抗值进行差异分析;

若所述实际阻抗值与模拟阻抗值有差异,则所述异常分析模块将所述实际生产参数反馈至相应的软件进行介电常数反推运算,并优化介电常数;

若所述实际阻抗值与模拟阻抗值无差异,则所述异常分析模块不对介电常数进行优化;

所述异常分析模块将所述实际生产参数表中的实际生产参数与理论参数表中的理论参数进行差异分析,并结合相应的公式,纠正所述理论参数表中的理论参数;

所述异常分析模块将纠正后的理论参数反馈至所述阻抗模拟软件,使得所述阻抗模拟软件重新计算与所述纠正后的理论参数对应的理论阻抗值;

所述异常分析模块将所述理论阻抗值与客户要求的阻抗值进行差异分析;

若所述理论阻抗值与客户要求的阻抗值有差异,则所述异常分析模块通过优化调整线宽对所述理论阻抗值进行差异补偿,使得补偿后的理论阻抗值与客户要求的阻抗值相等,并输出优化调整后的线宽;

若优化调整后的线宽在客户设计范围内,则所述异常分析模块直接采用所述优化调整后的线宽;

若优化调整后的线宽不在客户设计范围内,则所述异常分析模块进行叠层结构的优化:按照介电常数相近原则选取合适的介质层,使得优化后的理论阻抗值与客户要求的阻抗值一致。

2.根据权利要求1所述的阻抗大数据自动分析及优化方法,其特征在于,所述阻抗模型包括内层阻抗模型和外层阻抗模型;

相应的,所述理论参数表包括与所述内层阻抗模型对应的内层阻抗参数表和与所述外层阻抗模型对应的外层阻抗参数表。

3.根据权利要求2所述的阻抗大数据自动分析及优化方法,其特征在于,所述内层阻抗参数表中的参数包括芯板厚度、介质厚度、线宽、线间距、芯板介电常数、介质层介电常数、铜厚和阻抗值;

所述外层阻抗参数表中的参数包括介质厚度、线宽、线间距、介质层介电常数、铜厚、阻焊厚度、阻焊介电常数和阻抗值。

4.根据权利要求1所述的阻抗大数据自动分析及优化方法,其特征在于,在若所述实际阻抗值与模拟阻抗值有差异,则所述异常分析模块将所述实际生产参数反馈至相应的软件进行介电常数反推运算,并优化介电常数时,采用如下公式进行模拟运算:

其中,Z为阻抗,ε为介电常数,H为介质厚度,W为线宽,T为铜厚。

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