[发明专利]离子化装置和质谱分析装置有效
| 申请号: | 201880087773.4 | 申请日: | 2018-02-06 |
| 公开(公告)号: | CN111656483B | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
| 发明(设计)人: | 西口克 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | H01J49/14 | 分类号: | H01J49/14;H01J49/40;H01J49/42 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 离子化 装置 谱分析 | ||
1.一种离子化装置,其通过电子离子化使试样气体离子化,其特征在于,该离子化装置包括:
a)离子化室;
b)试样气体导入口,其设于所述离子化室,用于导入试样气体;
c)电子束释放部,其朝向所述离子化室释放电子束;
d)电子束通过口,其形成于所述离子化室的壁面的、供从所述电子束释放部释放的所述电子束通过的路径上,该电子束通过口的在该路径的方向上的长度比与该方向正交的截面的宽度长;以及
e)离子出口,其设于所述离子化室,用于将通过照射所述电子束而生成的所述试样气体的离子释放,
在所述电子束通过口的截面形状为圆形的情况下,所述宽度由直径规定,在所述电子束通过口的截面形状为除圆形之外的形状的情况下,所述宽度由相当于截面积相同的圆的直径的长度规定。
2.根据权利要求1所述的离子化装置,其特征在于,
两个所述电子束通过口隔着所述离子化室的内部空间的中心对称地形成。
3.根据权利要求1所述的离子化装置,其特征在于,
在所述离子化室的内部还包括用于形成将离子推向所述离子出口的方向的推送电场的反射极电极。
4.一种质谱分析装置,其特征在于,
该质谱分析装置包括:
权利要求1所述的离子化装置;
质量分离部,其用于将由所述离子化装置生成的离子根据预定的质荷比分离开;以及
检测器,其用于检测由所述质量分离部分离开的离子。
5.一种质谱分析装置,其特征在于,该质谱分析装置包括:
权利要求1所述的离子化装置;
四极滤质器,其用于将由所述离子化装置生成的离子根据质荷比分离开;以及
检测器,其用于检测由所述四极滤质器分离开的离子。
6.一种质谱分析装置,其特征在于,该质谱分析装置包括:
权利要求1所述的离子化装置;
前段四极滤质器,其用于将由所述离子化装置生成的离子根据质荷比分离开;
离子解离部,其用于使由所述前段四极滤质器选择出来的离子解离;
后段四极滤质器,其用于将通过所述离子解离部的解离而生成的产物离子根据质荷比分离开;以及
检测器,其用于检测由所述后段四极滤质器分离开的离子。
7.一种质谱分析装置,其特征在于,该质谱分析装置包括:
权利要求1所述的离子化装置;
正交加速方式的飞行时间型质量分离部,其用于将由所述离子化装置生成的离子根据质荷比分离开;以及
检测器,其用于检测由所述飞行时间型质量分离部分离开的离子。
8.一种质谱分析装置,其特征在于,该质谱分析装置包括:
权利要求1所述的离子化装置;
四极滤质器,其用于将由所述离子化装置生成的离子根据质荷比分离开;
离子解离部,其用于使由所述四极滤质器选择出来的离子解离;
正交加速方式的飞行时间型质量分离部,其用于将通过所述离子解离部的解离而生成的产物离子根据质荷比分离开;以及
检测器,其用于检测由所述飞行时间型质量分离部分离开的离子。
9.一种质谱分析装置,其特征在于,该质谱分析装置包括:
权利要求1所述的离子化装置;
双聚焦型质量分离部,其通过扇形磁场和扇形电场将由所述离子化装置生成的离子根据质荷比分离开;以及
检测器,其用于检测由所述双聚焦型质量分离部分离开的离子。
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