[发明专利]测距模块在审
| 申请号: | 201880057586.1 | 申请日: | 2018-06-25 |
| 公开(公告)号: | CN111051813A | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
| 发明(设计)人: | 马渕交司;新井健雄;木原信宏;山本一统;浅山豪 | 申请(专利权)人: | 索尼公司;索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号: | G01C3/06 | 分类号: | G01C3/06;G01B11/00;G01B11/25 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 曹正建;陈桂香 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测距 模块 | ||
1.一种测距模块,其包括:
衍射光学元件,其发射预定数量的线光束;
成像元件,其对照射被检测体的所述线光束进行成像;和
测距单元,其通过使用三角测量基于所成像的所述线光束来测量距所述被检测体的距离。
2.根据权利要求1所述的测距模块,还包括光源,所述光源将基本平行的光提供到所述衍射光学元件。
3.根据权利要求2所述的测距模块,其中,所述光源包括:
激光发生单元,其生成激光束,和
准直光学系统,其将来自所述激光发生单元的所述激光束转换为所述基本平行的光。
4.根据权利要求3所述的测距模块,其中,
所述光源还包括使所述基本平行的光振动的振动单元,并且
所述成像单元结合所述振动对所述线光束进行成像。
5.根据权利要求4所述的测距模块,其中,所述振动单元使所述基本平行的光在与所述线光束的方向正交的方向上振动。
6.根据权利要求4所述的测距模块,其中,所述振动单元使所述基本平行的光振动,使得所述基本平行的光的振幅大于所述线光束之间的间隔的宽度。
7.根据权利要求4所述的测距模块,还包括位置检测单元,所述位置检测单元检测所述振动单元的振动对象物的位置,
其中,所述成像元件根据所检测的位置结合所述振动进行成像。
8.根据权利要求4所述的测距模块,其中,所述振动单元通过使所述准直光学系统振动来使所述基本平行的光振动。
9.根据权利要求4所述的测距模块,其中,所述振动单元通过使来自所述激光发生单元的所述激光束振动来使所述基本平行的光振动。
10.根据权利要求4所述的测距模块,其中,
所述准直光学系统是准直透镜,并且
所述光源还包括反射镜,所述反射镜反射来自所述激光发生单元的所述激光束,并将所述激光束引导到所述准直透镜。
11.根据权利要求10所述的测距模块,其中,所述振动单元通过改变所述反射镜的角度来使所述基本平行的光振动。
12.根据权利要求4所述的测距模块,其中,所述振动单元包括致动器,所述致动器使用磁路或压电元件。
13.根据权利要求3所述的测距模块,其中,
所述准直光学系统是准直透镜,并且
所述光源还包括反射镜,所述反射镜反射来自所述准直透镜的所述基本平行的光,并将所述基本平行的光引导到所述衍射光学元件。
14.根据权利要求3所述的测距模块,其中,
所述准直光学系统是准直透镜,并且
所述衍射光学元件形成在反射镜的表面上,所述反射镜反射来自所述准直透镜的所述基本平行的光。
15.根据权利要求3所述的测距模块,其中,所述衍射光学元件形成在所述准直光学系统的表面上。
16.根据权利要求3所述的测距模块,其中,所述准直光学系统是菲涅尔透镜。
17.根据权利要求1所述的测距模块,其中,所述衍射光学元件被安装成使得光轴相对于所述成像元件的成像面倾斜。
18.根据权利要求17所述的测距模块,其中,基于所述光轴的倾斜,所述成像元件将除来自所述衍射光学元件的0级光的照射区域之外的区域设置为成像范围。
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