[发明专利]用于PET检测器余辉管理的方法

说明书

在此公开了在存在引起PET检测器余辉的电离放射的情况下用于采集正电子发射(或PET)数据的方法和设备。在一个变型中，该方法包括在治疗环节期间调节PET检测器的重合触发阈值。在一个变型中，该方法包括在治疗环节期间调节在正电子发射数据采集中使用的增益因子(例如，用于对(多个)PET检测器的(多个)输出进行乘积和/或移位的增益因子)。在一些变型中，一种用于在放射治疗环节期间获取正电子发射数据的方法包括：在由直线加速器发射出放射脉冲之后，将PET检测器与控制器的信号处理器之间的通信暂停预定时间段。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年7月11日提交的美国临时专利申请No.62/531,260的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本公开涉及在包括线性加速器(或其它电离放射源)和一个或多个正电子发射(或PET)检测器的放射治疗系统中使用的方法。

背景技术

放射治疗系统通常具有放射源(例如，线性加速器或直线加速器)，该放射源生成用于辐射靶向组织区域(诸如患者肿瘤区域)的治疗放射束。尽管生成的放射束可以被引向靶向区域并且可以由一个或多个钳口和/或准直仪进行束限制，但是放射束的一部分可能从靶向区域偏离和/或散射。该散射的放射可能会干扰放射治疗系统的其它组件的功能。

例如，散射或杂散的放射可能会影响放射治疗系统中各种检测器(诸如X射线和/或PET检测器)精确获取数据的能力。放射治疗系统中的PET检测器可能会受到影响，使得PET检测器对散射或杂散的放射的响应可能与真正的正电子发射事件无法区分。在高水平放射的情况下(例如，诸如在来自直线加速器的放射脉冲期间)，PET检测器可能会“消隐”和/或饱和。这可能使它们无法有意义地检测正电子发射数据。

因此，可能期望开发用于管理由于来自直线加速器的散射放射而导致设备损坏和/或数据损坏的风险的方法和设备。

发明内容

在此公开了用于在存在引起PET检测器余辉的电离放射的情况下获取正电子发射(或PET)数据的方法和设备。在一个变型中，该方法可以包括在治疗环节期间调节PET检测器的重合触发阈值。重合触发阈值可以随着PET检测器余辉度增加而增加。例如，重合触发阈值可以随着一个或多个PET检测器的暗计数率增加和/或超过阈值暗计数率而增加。可替代地或另外地，重合触发阈值可以随着一个或多个PET检测器的偏置电流增加和/或超过阈值偏置电流水平而增加。还可以基于系统的测量温度(例如，在PET检测器处或附近)来调节重合触发阈值，其中，重合触发阈值可以随着系统温度增加而增加。在一些变型中，重合触发阈值可以基于放射源或直线加速器的放射输出来调节。例如，当发射的放射脉冲的数量超过预定阈值时，和/或基于脉冲时间表，和/或基于直线加速器在治疗环节期间所发射的放射的累积量，可以调节重合触发阈值。在一些变型中，如果两个系统组件(例如，直线加速器和准直仪)之间的同步偏移并且定时偏移超过预定阈值，则可以调节重合触发阈值。

在一些变型中，一种用于在放射治疗环节期间获取正电子发射数据的方法可以包括：在直线加速器已经发射了放射脉冲之后，将PET检测器与控制器的信号处理器之间的通信暂停预定时间段。例如，预定时间段可以是约100μs或更长，或约200μs或更长。可替代地或另外地，预定时间段可以至少部分地由直线加速器放射脉冲的宽度或持续时间确定。例如，预定时间段可以比直线加速器脉冲的持续时间长约25倍或约100倍。在预定时间段过去之后，PET检测器与信号处理器之间的通信可以恢复，并且正电子发射数据可以从检测器传输到信号处理器和/或由信号处理器获取以用于控制器的分析和/或存储。

在其它变型中，放射治疗系统可以包括放射源、多个PET检测器(例如，PET检测器阵列)以及可在多个PET检测器上方移动的放射阻挡罩。当放射源发射放射时，放射阻挡罩可以在辐射间隔期间定位于PET检测器上方，而当放射源不发射放射时，可以在检测间隔期间远离PET检测器定位。