[发明专利]碳化硼硬掩模的干式剥除有效
| 申请号: | 201880035089.1 | 申请日: | 2018-05-30 |
| 公开(公告)号: | CN110678973B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
| 发明(设计)人: | P·曼纳;江施施;A·B·玛里克;K·莱斯彻基什 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/02 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖;张鑫 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 碳化 硼硬掩模 剥除 | ||
1.一种剥除沉积在基板上的碳化硼层的方法,所述方法包括:
将所述基板装载到压力容器的处理区域中,所述基板上沉积有所述碳化硼层;
将所述基板暴露于处理气体,所述处理气体包括压力在500托与60巴之间的氧化剂,其中所述处理气体不包括等离子体;
将所述压力容器的所述处理区域加热到大于所述处理气体的冷凝点的温度;和
从所述压力容器去除所述处理气体与所述碳化硼层之间的反应的一种或多种产物。
2.如权利要求1所述的方法,其中将所述基板暴露于处理气体的步骤包括:
在大于10巴的压力下将所述基板暴露于蒸气。
3.如权利要求2所述的方法,其中所述基板暴露于蒸气量,所述蒸气量是沉积在所述基板上的碳化硼量的至少十倍。
4.如权利要求1所述的方法,其中所述氧化剂选自由以下各者组成的群组:臭氧、氧气、水蒸气、重水、氨、过氧化物、含氢氧化物的化合物、氧同位素和氢同位素。
5.如权利要求1所述的方法,其中所述基板暴露于氧化剂量,所述氧化剂量超过与沉积在所述基板上的碳化硼量完全反应所需的氧化剂量。
6.如权利要求1所述的方法,其中将所述压力容器的所述处理区域加热至300摄氏度至700摄氏度之间的温度。
7.如权利要求1所述的方法,其中所述处理气体包括5%的干蒸气至100%的干蒸气。
8.一种剥除沉积在多个基板上的碳化硼层的方法,所述方法包括:
将所述多个基板同时装载到压力容器的处理区域中,所述多个基板中的每一个上沉积有所述碳化硼层;
将所述多个基板暴露于处理气体,所述处理气体包括压力在500托与60巴之间的氧化剂;
将所述压力容器的所述处理区域加热到大于所述处理气体的冷凝点的温度;和
从所述压力容器去除所述处理气体与所述碳化硼层之间的反应的一种或多种产物。
9.如权利要求8所述的方法,其中将所述多个基板暴露于所述处理气体包括:
在大于10巴的压力下将所述多个基板暴露于蒸气。
10.如权利要求8所述的方法,其中所述氧化剂选自由以下各者组成的群组:臭氧、氧气、水蒸气、重水、氨、过氧化物、含氢氧化物的化合物、氧同位素和氢同位素。
11.如权利要求8所述的方法,其中所述多个基板暴露于氧化剂量,所述氧化剂量超过与沉积在所述多个基板中的第一基板上的碳化硼量完全反应所需的氧化剂量。
12.如权利要求8所述的方法,其中将所述压力容器的所述处理区域加热至300摄氏度至700摄氏度之间的温度。
13.如权利要求8所述的方法,其中所述处理气体包括5%的干蒸气至100%的干蒸气。
14.一种剥除沉积在多个基板上的碳化硼层的方法,所述方法包括:
将所述多个基板同时装载到压力容器的处理区域中,所述多个基板中的每一个上沉积有所述碳化硼层;
将所述多个基板暴露于处理气体,所述处理气体包括压力在10巴与60巴之间的蒸气;
将所述压力容器的所述处理区域加热到大于所述处理气体的冷凝点的温度;和从所述压力容器中去除所述处理气体与所述碳化硼层之间的反应的一种或多种产物。
15.如权利要求14所述的方法,其中所述处理气体包括5%的过热蒸气至100%的过热蒸气。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201880035089.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:降低字线电阻的方法
- 下一篇:半导体装置、电子构件及电子设备
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





