[发明专利]过电流检测装置、控制装置及过电流检测方法

说明书

近年来，期望提高过电流的检测精度。本发明提供一种过电流检测装置，具备：栅极电流检测部，其检测流向半导体元件的栅极电流是否为基准栅极电流以上；感测电流检测部，其检测在上述半导体元件的感测发射极端子流通的感测电流是否为基准感测电流以上；以及调整部，其以上述栅极电流为上述基准栅极电流以上为条件，使上述感测电流的检测值相对于上述基准感测电流相对地减小。

技术领域

本发明涉及过电流检测装置、控制装置及过电流检测方法。

背景技术

以往，提出了在过电流产生时停止电力控制而防止元件的破坏的技术(例如参照专利文献1～4)。

专利文献1：日本特开2006-32393号公报

专利文献2：日本特开2015-53749号公报

专利文献3：日本特开2015-139271号公报

专利文献4：日本特开平6-120787号公报

发明内容

技术问题

近年来，期望提高过电流的检测精度。

技术方案

(项目1)

在本发明的第1方式中，提供一种过电流检测装置。过电流检测装置可以具备检测流向半导体元件的栅极电流是否为基准栅极电流以上的栅极电流检测部。过电流检测装置可以具备检测在半导体元件的感测发射极端子流通的感测电流是否为基准感测电流以上的感测电流检测部。过电流检测装置可以具备以栅极电流为基准栅极电流以上为条件，使感测电流的检测值相对于基准感测电流相对地减小的调整部。

(项目2)

调整部可以以栅极电流为基准栅极电流以上为条件，使感测电流的检测值减小。

(项目3)

感测电流检测部可以具有电连接到感测发射极端子与基准电位之间的感测电流检测电阻。感测电流检测部可以具有对因在感测电流检测电阻流通的感测电流而产生的感测检测电压和与基准感测电流对应的基准电压进行比较的感测电流检测比较器。调整部可以以栅极电流为基准栅极电流以上为条件，使感测电流检测电阻的电阻值减小。

(项目4)

调整部可以以栅极电流为基准栅极电流以上为条件，使感测电流检测电阻的至少一部分旁路。

(项目5)

栅极电流检测部可以具有电连接到输入栅极驱动信号的栅极驱动端子与半导体元件的栅极端子之间的栅极电流检测电阻，栅极驱动信号用于驱动半导体元件的栅极。栅极电流检测部可以具有检测因栅极电流在栅极电流检测电阻流通而产生的栅极检测电压是否为与基准栅极电流对应的电压以上的栅极电流检测比较器。

(项目6)

栅极电流检测部可以具有对栅极电流检测电阻的栅极驱动端子侧的电压进行分压的第1电阻分压器。栅极电流检测部可以具有对栅极电流检测电阻的栅极端子侧的电压进行分压的第2电阻分压器。栅极电流检测比较器可以被输入由第1电阻分压器分压而得的电压和由第2电阻分压器分压而得的电压。

(项目7)

第1电阻分压器的分压比和第2电阻分压器的分压比可以彼此不同。

(项目8)

在本发明的第2方式中，提供一种控制装置。控制装置可以具备输出用于根据输入信号来驱动半导体元件的栅极的栅极驱动信号的栅极驱动部。控制装置可以具备第1方式的过电流检测装置。

(项目9)