[实用新型]一种能减少漏电流的可寻址测试芯片及其测试系统

权利要求书

1.一种能减少漏电流的可寻址测试芯片，包括开关电路、寻址电路、若干待测器件和若干焊盘；寻址电路的输出端连接到开关电路的输入端，寻址电路控制开关电路中开关的通断；开关电路的输出端与待测器件的输入端相连，通过开关的通断状态选定待测器件；其特征在于，寻址电路包括若干译码器，开关电路包括多个传输门，其中若干个传输门为一组，同一组传输门的输入端连接到寻址电路中的同一个译码器；多组传输门按信号传递方向连接成多级传输门结构，其中高一级的传输门的输出端连接到与之相连的低一级传输门的输入端，最低一级传输门的输出端与待测器件的测试信号线相连。

2.根据权利要求1所述的一种能减少漏电流的可寻址测试芯片，其特征在于，同一组传输门中的每个传输门所连接的低一级传输门的数量相同。

3.根据权利要求1所述的一种能减少漏电流的可寻址测试芯片，其特征在于，所述寻址电路中每个译码器的型号，根据所连接的该组传输门个数确定：译码器的数字信号输出位数不小于与其连接的该组传输门中的传输门个数。

4.根据权利要求1所述的一种能减少漏电流的可寻址测试芯片，其特征在于，所有待测器件分布在同一个DUT阵列中，开关电路和寻址电路都设置在该DUT阵列的外围。

5.根据权利要求1所述的一种能减少漏电流的可寻址测试芯片，其特征在于，所述开关电路包括行开关电路和列开关电路，寻址电路包括行地址译码器和列地址译码器；行地址译码器与行开关电路相连，用于控制行开关电路选定待测器件的所在行；列地址译码器与列开关电路相连，用于控制列开关电路选定待测器件的所在列。

6.一种能减少漏电流的可寻址测试系统，其特征在于，包括测试仪器、探针卡及权利要求1至5中任意一项所述的能减少漏电流的可寻址测试芯片，测试仪器与能减少漏电流的可寻址测试芯片通过探针卡相连并构成测试通路。