[实用新型]一种高精度电导率测试仪

说明书

本实用新型公开了一种高精度电导率测试仪，包括电导率测试仪本体，电导率测试仪本体的外壳顶端两侧均开设有电极架插孔，其中一个电极架插孔与电极架的一端穿插连接，电极架的内部固定安装有固定块，固定块表面开设有通孔，通孔与电导率电极穿插连接。本实用新型一种高精度电导率测试仪，通过采用四电极式电导池，通过安装的温度传感器便于对温度逐点逼近温度测量，采用专用的电导池激励电路，可方便提供不同电导常数下的不同激励电压，以及通过MCU可切换不同的放大倍数，从而可适用不同的电极常数的电导电极，以及在同一电极常数下，通过MCU切换放倍数及激励电压，实现宽范围的高适用性，高精度的电导测量。

技术领域

本实用新型涉及一种测试仪，特别涉及一种高精度电导率测试仪。

背景技术

电导率的定义按R＝pL/A，其中L是接触距离，A是接触面积，P是电阻率，电导率是电阻率的导数，所有水溶液都在一定程度上导电，电导率系统通过电子处理电路，连接沉浸在溶液中的传感器(称为电导池)，来测量电导率。

现有的电导率测试仪，一般采用二电极式电导池，不能提供不同的导电常数，同时检测精度不够准确，检测的范围较窄，无法满足电导率测试需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种高精度电导率测试仪，以解决上述背景技术中提出的现有的电导率测试仪，一般采用二电极式电导池，不能提供不同的导电常数，同时检测精度不够准确，检测的范围较窄，无法满足电导率测试需求的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高精度电导率测试仪，包括电导率测试仪本体，所述电导率测试仪本体的外壳顶端两侧均开设有电极架插孔，其中一个所述电极架插孔与电极架的一端穿插连接，所述电极架的内部固定安装有固定块，所述固定块表面开设有通孔，所述通孔与电导率电极穿插连接，所述电导率电极的一端固定安装有接线柱，所述接线柱的顶端通过数据线与电导率测试仪本体一侧的输入端口电性连接，所述电导率测试仪本体的内部分别安装有MCU处理器、电路板、温度传感器和四电极式电导池，所述电路板表面设有电导池激励电路，所述电路板、温度传感器和四电极式电导池均与MCU处理器电性连接，所述电路板的电源接线电极与外接电源电性连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述固定块的一侧开设有与通孔连通的螺纹孔，所述螺纹孔与螺栓螺纹连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述电导率测试仪本体的外壳两侧均开设的散热窗，所述散热窗的内部固定安装有防尘网。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述电导率测试仪本体的外壳底端贴设有橡胶垫，所述橡胶垫的表面开设有均匀分布的防滑纹。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述电导率测试仪本体的表面贴设有防尘膜。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型一种高精度电导率测试仪，通过采用四电极式电导池，通过安装的温度传感器便于对温度逐点逼近温度测量，采用专用的电导池激励电路，可方便提供不同电导常数下的不同激励电压，以及通过MCU可切换不同的放大倍数，从而可适用不同的电极常数的电导电极，以及在同一电极常数下，通过MCU切换放倍数及激励电压，实现宽范围的高适用性，高精度的电导测量，通过开设的散热窗，便于在MCU工作过程中及时散热。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型的内部结构示意图；

图3为本实用新型的局部结构示意图；

图4为本实用新型电导池激励电路图。

图中：1、电导率测试仪本体；2、电极架插孔；3、电极架；4、固定块；5、电导率电极；6、接线柱；7、螺栓；8、散热窗；9、MCU处理器；10、电路板；11、温度传感器；12、四电极式电导池；13、螺纹孔。