[实用新型]一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置

说明书

本实用新型公开一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，包括主腔体、微波加热构件、X射线发生器、探测器、样品槽、探测器圆盘、底盘、X射线发生器圆盘、试样台、X射线发生器支撑杆、探测器支撑杆、卡环、滑槽、X射线发生器驱动电机、探测器驱动电机；本实用新型主要用于分析微波加热过程中的物料成分及其物相变化，通过调节X射线发生器和探测器角度来获取不同的散射粒子及其能谱，通过能谱分析，用以分析物料成分，探测器采集分析二次粒子，能够得到关于物料在微波连续加热状态下的物相变化过程。

技术领域

本实用新型属于分析测试设备领域，涉及一种X射线荧光分析设备，具体涉及一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，能够实现对微波加热冶金物料过程的变化做到分析检测。

背景技术

射线分析检测技术是重要的分析检测技术，具有稳定性强，精密度好，灵敏度高的特点，在射线检测技术中，通过使用探测器探测射线与样品相互作用所产生的初级射线以及二级射线，并分析射线所携带的能量特征信息，能够获取关于样品的相关信息。

射线分析技术被广泛利用在地质、化工、冶金、材料、矿物加工、卫生环保、商检、安全等多个领域中。射线分析技术主要包括γ射线分析，β射线分析，X射线分析等。其中最容易以及最广泛的是X射线分析。通过采用高速运动的带电粒子撞击重核元素所做成的标靶可产生X射线，通过准直器对X射线进行准直，用之轰击激发样品，受到激发的样品中的元素原子可释放刺激X射线，因为不同的原子具有不同的能级结构，所以产生的X射线能量也是不同的，波长也具有其各自的特征，采用探测器探测所释放的次级X射线的能量和数量，通过计算机处理，就可以知道所收集信息代表的元素种类和元素含量等，还可以用于表征所分析样品的微观形貌及其构成，表征样品的物相组成。X射线的入射角度以及探测器的探测角度，决定了分析检测设备所能获取的信息特征及其信息量。入射X射线的能量大小决定了所能分析元素种类，从理论上来说，X射线能够实现对所有元素的分析，但是由于每种元素的检出限制以及所提供X射线能量的特征，能够检出的元素种类是一定的，所以检测中，总是要提供能量尽量高的初级X射线，以便于完成全方位全局的检测。

微波作为一种绿色能源利用于冶金、材料的制备过程中，具有选择性加热，加热迅速，加热过程可调可控等特点，微波加热相比于常规的加热方式具有内部加热，强化加热过程的特点，微波作为新颖的加热方式，被引入在材料制备、冶金物料焙烧等过程中，试验研究发现，采用微波加热，取到了缩短加热时间，优化反应条件的结果。同时在微观上来说，未能实现微波加热过程的微观过程分析。在微波加热物质过程的微观分析方面，还未能发现有相关文献报道。

发明内容

现行的微波加热冶金物料只能进行初态和加热后的终态分析，对于微波作为加热热源如何改变加热物质的微观结构，还未有能够实现过程连续分析或离散过程分析的设备，本实用新型提供一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，区分于常规的高温物料分析装置，该装置用于微波加热过程中的物相和成分分析，以助于了解微波加热过程中的物料具体的物相变化。

一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，包括主腔体1、微波加热构件2、X射线发生器3、探测器4、样品槽5、探测器圆盘6、底盘7、X射线发生器圆盘8、试样台9、X射线发生器支撑杆10、探测器支撑杆11、卡环12、滑槽13、X射线发生器驱动电机14、探测器驱动电机15，

主腔体1一端设有试样台9，试样台9上开槽，样品槽5设置在槽里，样品槽5底部设有微波加热构件2，微波加热构件2位于主腔体1内部；

主腔体1另一端设置在底盘7上，主腔体1上设有卡环12，卡环12与主腔体1之间为螺纹连接，底盘7上开有环形滑槽13，环形滑槽13横向深入底盘7内部，环形滑槽13下面开有半圆弧形通孔，