[实用新型]一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置

权利要求书

1.一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，其特征在于，包括主腔体（1）、微波加热构件（2）、X射线发生器（3）、探测器（4）、样品槽（5）、探测器圆盘（6）、底盘（7）、X射线发生器圆盘（8）、试样台（9）、X射线发生器支撑杆（10）、探测器支撑杆（11）、卡环（12）、滑槽（13）、X射线发生器驱动电机（14）、探测器驱动电机（15），

主腔体（1）一端设有试样台（9），试样台（9）上开槽，样品槽（5）设置在槽里，样品槽（5）底部设有微波加热构件（2），微波加热构件（2）位于主腔体（1）内部；

主腔体（1）另一端设置在底盘（7）上，主腔体（1）上设有卡环（12），卡环（12）与主腔体（1）之间为螺纹连接，底盘（7）上开有环形滑槽（13），环形滑槽（13）横向深入底盘（7）内部，环形滑槽（13）下面开有半圆弧形通孔，

X射线发生器（3）设置在X射线发生器支撑杆（10）上，X射线发生器支撑杆（10）另一端穿过底盘（7）上的半圆弧形通孔后与X射线发生器驱动电机（14）连接，X射线发生器支撑杆（10）上设有X射线发生器圆盘（8），X射线发生器圆盘（8）设置在环形滑槽（13）内并沿环形滑槽（13）滑动；探测器（4）设置在探测器支撑杆（11）上，探测器支撑杆（11）另一端穿过底盘（7）上的半圆弧形通孔后与探测器驱动电机（15）连接，探测器支撑杆（11）上设有探测器圆盘（6），探测器圆盘（6）设置在环形滑槽（13）内并沿环形滑槽（13）滑动；X射线发生器（3）、探测器（4）与样品槽（5）内部相对。

2.根据权利要求1所述基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，其特征在于，还包括红外测温仪（16）、红外测温仪支架（17），红外测温仪支架（17）设置在主腔体（1）上，红外测温仪支架（17）上设有红外测温仪（16），红外测温仪（16）正对样品槽（5）内部。

3.根据权利要求1所述基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，其特征在于，X射线发生器（3）、探测器（4）与环形滑槽（13）圆心连线与水平位置在X轴方向形成的锐角为0-90°。

4.根据权利要求1所述基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，其特征在于，还包括控制器，控制器分别与红外测温仪（16）、微波加热构件（2）连接，X射线发生器（3）、探测器（4）还分别与计算机连接。

5.根据权利要求1所述基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，其特征在于，所述微波加热构件（2）包括微波发生器、微波波导，微波波导设置在样品槽（5）底部且与样品槽（5）对接，微波波导与微波发生器连接。