[实用新型]一种光敏元件测试机的加热装置

说明书

本实用新型涉及光敏元件测试机技术领域，具体地，涉及一种光敏元件测试机的加热装置，包括有加热装置和用于检测光敏元件暗电流的检测组件，加热组件安装在平震台的顶端，所述加热组件包括有热屏蔽罩、第一温度传感器、第二温度传感器、加热管安装架和若干个电加热管，所述检测组件设置在平震轨道输出端的一侧，检测组件设置有两个检测探针，检测探针穿过平震轨道一侧外壁朝向平震轨道内延伸，通过在普通自动测试机的平震轨道上加装加热装置，使产品在通过平震进入到机台测试站时内部温度上升到近似一般客户使用时其内部会达到的温度，如此暗电流的测试结果即与实际应用的表现相同，避免出现客户使用出现不良的状况。

技术领域

本实用新型涉及光敏元件测试机技术领域，具体地，涉及一种光敏元件测试机的加热装置。

背景技术

自动测试机在半导体封装行业是必不可少的，他应用于将前制程中产生的不良品筛选出来，自动测试机都是通过平震台将需要检测的光敏元件沿着平震轨道的输送方向移动，在移动的过程中通过检测组件的两个检测探针检测光敏元件的两个产品引脚检测出暗电流的参数。

但某些产品的某些参数在常温下正常测试，良品和不良品表现出来的数字差异极小，无法筛选，但是客户在高温环境下应用时会表现出明显差异，如光敏器件的暗电流参数。

光敏器件的暗电流是随温度上升而增加的，但是个体之间的暗电流随温度的上升曲线不尽一致，常温暗电流小的产品可能在高温下暗电流更大一些，如此就可能出现在封装厂测试判为良品的产品在客户高温使用时呈现出暗电流过大的不良情形。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供一种光敏元件测试机的加热装置，通过在普通自动测试机的平震轨道上加装加热装置，使产品在通过平震进入到机台测试站时内部温度上升到近似一般客户使用时其内部会达到的温度，如此暗电流的测试结果即与实际应用的表现相同，避免出现客户使用出现不良的状况。

本实用新型公开的一种光敏元件测试机的加热装置，包括有平震台和设置在平震台顶端用于输送光敏元件的平震轨道，还包括有控制器、加热装置和用于检测光敏元件暗电流的检测组件，加热组件安装在平震台的顶端，所述加热组件包括有热屏蔽罩、第一温度传感器、第二温度传感器、加热管安装架和若干个电加热管，所述热屏蔽罩为倒置的U形框体结构，热屏蔽罩安装在平震台的顶端并且热屏蔽罩横跨在平震轨道的上方，所述加热管安装架呈水平状态安装在热屏蔽罩顶端的内壁，所有电加热管间隔设置悬挂在加热管安装架上，所述第一温度传感器设置在平震轨道的进料端并且第一温度传感器安装在热屏蔽罩一侧的内壁，第二温度传感器设置在平震轨道的出料端并且第二温度传感器安装在热屏蔽罩上与第一温度传感器相同一侧的内壁，所述检测组件设置在平震轨道输出端的一侧，检测组件设置有两个检测探针，检测探针穿过平震轨道一侧外壁朝向平震轨道内延伸，第一温度传感器、第二温度传感器、电加热管和检测组件与控制器电性连接。

所述平震台、平震轨道和热屏蔽罩三者之间的长度相同。

所述热屏蔽罩包括有罩体和隔热板，罩体的两个侧壁和顶板均设置有一个第一通孔，每个通孔内均插设一块与罩体长度相同的隔热板。

所述第一温度传感器和第二温度传感器均设置有固定支架，固定支架为L形结构，固定支架的一端与热屏蔽罩的内壁连接，第一温度传感器或第二温度传感器均设置在固定支架的另一端，第一温度传感器和第二温度传感器的检测端朝向平震轨道方向延伸。

所述加热管安装架包括有直线轨道和若干个灯管挂件，所述直线轨道呈水平状态安装在热屏蔽罩顶端的内壁，直线轨道的两端与热屏蔽罩的两端齐平，直线轨道上设置有用于灯管挂件滑动的滑槽，所有灯管挂件悬挂在直线轨道上并且灯管挂件与直线轨道滑动配合，电加热管安装在灯管挂件上。

所述灯管挂件包括有滑块、悬挂条和三个灯管卡扣，所述滑块与滑槽滑动配合，悬挂条呈水平状态安装在滑块的底端，三个所述灯管卡扣等间距安装在悬挂条的底端，电加热管卡设在三个灯管卡扣上。