[实用新型]LED元器件自动检测系统有效

专利信息
申请号: 201821791249.9 申请日: 2018-11-01
公开(公告)号: CN209215426U 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 郑攀;付红超;刘娟 申请(专利权)人: 昆山琉明光电有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/44
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 朱琳
地址: 215333 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 检测 自动检测系统 本实用新型 传输轨道 发光颜色 检测装置 流出 发光检测模块 外观检测模块 表面元器件 电源装置 环形光源 夹持装置 控制装置 人工检测 人眼检测 同一工序 运行方向 自动完成 不良品 分光片 发光 平行 传输 替代
【权利要求书】:

1.一种LED元器件自动检测系统,包括用于传输待检测的LED产品的传输轨道,所述传输轨道的运行方向平行于X轴,其特征在于,还包括:

一对Y轴模组,一对所述Y轴模组平行架设于传输轨道上方,且所述Y轴模组沿垂直于X轴的Y轴方向延伸;

X轴模组,所述X轴模组连接在一对所述Y轴模组之间,并能沿Y轴方向滑动;

夹持装置,所述夹持装置设置于所述X轴模组下方的传输轨道上,并用于夹持所述LED产品;

电源装置,所述电源装置设置于所述夹持装置上,用于在所述夹持装置夹紧所述LED产品时向所述LED产品供电;

环形光源,所述环形光源设置于所述传输轨道上方且能随着所述LED产品的类型调节发光波长,所述环形光源所投射的第一光线倾斜照射所述LED产品;

检测装置,所述检测装置设置于所述X轴模组上并能沿X轴方向移动,其包括用于对所述LED产品表面元器件的外观进行检测的外观检测模块、用于对发光的LED晶片发光颜色差异进行检测的发光检测模块,以及分光片;所述外观检测模块包括竖直设置并朝向所述夹持装置的第一光学检测元件,所述第一光学检测元件用于对所述LED产品进行外形检测,所述发光检测模块包括第二光学检测元件,所述第一光学检测元件位于所述第二光学检测元件的上方,所述第二光学检测元件用于检测所述LED产品上晶片的发光情况,所述第二光学检测元件的设置方向与所述第一光学检测元件的设置方向垂直,所述分光片位于所述第一光学检测元件的轴向延长线及所述第二光学检测元件的轴向延长线的焦点上;

控制装置,所述控制装置与所述Y轴模组、X轴模组、夹持装置、电源装置、环形光源及检测装置电性连接。

2.根据权利要求1所述的LED元器件自动检测系统,其特征在于:所述LED元器件自动检测系统还包括用于对所述LED产品表面不合格的元器件进行标记的标记装置,所述标记装置与所述控制装置电性连接。

3.根据权利要求1所述的LED元器件自动检测系统,其特征在于:所述LED元器件自动检测系统具有第一工作状态,当所述LED元器件自动检测系统处于第一工作状态时,所述电源装置与所述LED产品的连接电路处于断开状态,所述环形光源处于工作状态并产生倾斜投射至所述LED产品的第一光线,所述第一光线经所述LED产品反射产生向上投射的第二光线,所述第二光线穿过所述分光片并投射至所述第一光学检测元件。

4.根据权利要求1所述的LED元器件自动检测系统,其特征在于:所述LED元器件自动检测系统具有第二工作状态,当所述LED元器件自动检测系统处于第二工作状态时,所述电源装置与所述LED产品的连接电路处于连通状态,所述环形光源处于工作状态,所述LED产品上晶片处于通电状态并产生向上投射的第三光线,所述第三光线经所述分光片反射产生投射至所述第二光学检测元件的第四光线。

5.根据权利要求1所述的LED元器件自动检测系统,其特征在于:所述LED元器件自动检测系统具有第三工作状态,当所述LED元器件自动检测系统处于第三工作状态时,所述电源装置与所述LED产品的连接电路处于连通状态,所述环形光源处于工作状态并产生倾斜投射至所述LED产品的第一光线,所述第一光线经所述LED产品反射产生向上投射的第二光线,所述第二光线穿过所述分光片并投射至所述第一光学检测元件,所述LED产品上晶片处于通电状态并产生向上投射的第三光线,所述第三光线经所述分光片反射产生投射至所述第二光学检测元件的第四光线,所述第一光线与所述第三光线的波长不同。

6.根据权利要求1所述的LED元器件自动检测系统,其特征在于:所述第二光学检测元件为光谱照度计。

7.根据权利要求1所述的LED元器件自动检测系统,其特征在于:所述LED元器件自动检测系统还包括分别与所述外观检测模块及发光检测模块电性连接的显示器。

8.根据权利要求1所述的LED元器件自动检测系统,其特征在于:所述夹持装置包括用于检测所述传输轨道上LED产品位置的传感模块。

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