[实用新型]一种微量分光光度计

说明书

本实用新型公开了一种微量分光光度计，包括外壳、一端安装在外壳的转轴上的上测量平台、固定在外壳内的下测量平台；上测量平台与下测量平台分别设有相对的投射光纤与接收光纤，接收光纤一端连接检测分析模块；所述上测量平台向下固定安装有连接柱与上限位柱，下测量平台开有通孔，通孔内安装有与连接柱下端抵触的下限位柱；下限位柱下端通过安装弹性体连接安装于外壳内的直线电机，且下限位柱下端或弹性体直径大于通孔；所述下测量平台还开有正对上限位柱的定位槽；还包括上测量平台与下测量平台正对时，用于紧固连接柱与下限位柱的连接机构。

技术领域

本实用新型涉及分光光度计领域，尤其涉及一种微量分光光度计。

背景技术

微量分光光度计是利用微量液体的张力牵引形成光通路；现有的微量分光光度计主要通过控制电磁铁的电通断来调节微量分光光度计的光程长度，如专利CN201955299U公开的一种用于微量分光光度计的取样测量装置，电磁铁磁缸通或断时，造成升降座下降或上升、弹簧收缩与复位，使得上测量平台下调或上调，期间通过第一顶丝与升降座接触，第二顶丝与下测量平台接触，实现上、下限位。

但是通过电磁控制的方式，升降的过程不稳定，而且控制精度不高，同时电磁铁磁缸的通断，会造成升降座会有瞬间的冲击，长时间会导致设备的损坏与控制不精确。

另外，为了实现对所述上测量平台和所述下测量平台的锁定，在二者相对表面设置一对磁铁，但电磁铁磁缸断开时，会增大向上的瞬间冲击力。

综上，我们设计了一种微量分光光度计。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种微量分光光度计，旨在解决现有电磁控制的微量分光光度计光程长度控制精确，升降不稳定，有瞬间的冲击容易造成设备损坏与控制精度的失准。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种微量分光光度计，包括外壳、一端安装在外壳的转轴上的上测量平台、固定在外壳内的下测量平台；上测量平台与下测量平台分别设有相对的投射光纤与接收光纤，接收光纤一端连接检测分析模块；所述上测量平台向下固定安装有连接柱与上限位柱，下测量平台开有通孔，通孔内安装有与连接柱下端抵触的下限位柱；下限位柱下端通过安装弹性体连接安装于外壳内的直线电机，且下限位柱下端或弹性体直径大于通孔；所述下测量平台还开有正对上限位柱的定位槽；还包括上测量平台与下测量平台正对时，用于紧固连接柱与下限位柱的连接机构。

优选的，所述连接机构为磁钢，且连接柱为磁钢柱，磁钢安装于连接柱上并与下限位柱吸合；通过磁性固定连接连接柱与下限位柱，使得上测量平台打开方便。

优选的，所述连接机构为螺栓，连接柱通过螺栓与下限位柱连接；松开螺栓在下限位柱上的连接即可打开上测量平台。

优选的，所述投射光纤由光源光纤与过滤光纤构成，过滤光纤一端与接收光纤一端相对。

为了优化内部空间，减小仪器体积，所述过滤光纤安装于上测量平台，接收光纤安装于下测量平台上，过滤光纤一端与接收光纤一端相对，所述光源光纤安装在下测量平台上，过滤光纤另一端与光源光纤输出端相对。

作为一种上盖的安装方式，所述外壳上端通过支撑板安装有转轴，上测量平台一端安装在转轴上，还包括上盖，上盖一端同样安装在转轴上。

作为一种显示数据的方式，所述检测分析模块设置在外壳内，外壳表面安装有与检测分析模块连接的显示单元。

为了限制直线电机的行程，同时在直线电机出现错误时，方便使其回到初始位置，所述直线电机下方的外壳内设有限位开关。如，将直线电机初级固定，次级做上下直线运动，限位开关位于次级正下方。

作为优选，所述限位开关为光电开关。