[实用新型]一种电子芯片质量检测装置

权利要求书

1.一种电子芯片质量检测装置，包括机身(1)与连接线(7)，其特征在于：所述机身(1)的外表面设置有防护外壳(6)，且机身(1)的前端面靠近右侧处嵌设有输入面板(3)，所述输入面板(3)的前端外表面平行等距设置有多个按键(4)，所述机身(1)的前端面靠近左下角拐角处设置有开关键(5)，且机身(1)的前端面位于开关键(5)的一侧设置有检测按钮(2)，所述机身(1)的一端通过连接线(7)连接有测试座(8)，所述测试座(8)上端面中间位置处开设有芯片放置槽(19)，且测试座(8)的上端面位于芯片放置槽(19)的四角边沿处均开设有槽孔(17)，所述测试座(8)后端面活动安装有翻盖(16)，且测试座(8)与翻盖(16)的连接处设置有定向轴(18)，所述防护外壳(6)的两外侧位于底端处焊接有防滑底座(14)，且防护外壳(6)的两侧靠近防滑底座(14)处均开设有两个螺丝孔(13)，所述防护外壳(6)的内表面设置有防尘内衬(15)，所述机身(1)的后端面位于右侧处设置有散热扇(12)，且机身(1)的后端面位于左上角拐角处设置有电源接口(9)，所述机身(1)的后端面位于底端中间位置处设置有数据接口(10)与检测接口(11)，所述机身(1)的内部设置有单片机(23)，且机身(1)的内部位于单片机(23)的左侧分别设置有键盘输入模块(20)与芯片检测模块(21)，所述机身(1)的内部位于单片机(23)的右侧设置有显示模块(24)，且机身(1)的内部靠近单片机(23)的下方一侧设置有电源模块(22)。

2.根据权利要求1所述的一种电子芯片质量检测装置，其特征在于：所述测试座(8)通过连接线(7)与机身(1)电性连接，且测试座(8)通过定向轴(18)与翻盖(16)活动连接。

3.根据权利要求1所述的一种电子芯片质量检测装置，其特征在于：所述翻盖(16)的内侧面位于顶端处固定安装有卡扣，所述测试座(8)上开设有扣槽。

4.根据权利要求1所述的一种电子芯片质量检测装置，其特征在于：所述芯片放置槽(19)的底部平行等距设置有多个接触端子，且芯片放置槽(19)的四周内壁上贴设有防护膜。

5.根据权利要求1所述的一种电子芯片质量检测装置，其特征在于：所述机身(1)的前端面位于检测按钮(2)的上方两侧均设置有数字显示屏，且机身(1)与防护外壳(6)固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种电子芯片质量检测装置，其特征在于：所述电源接口(9)为三孔插座，所述检测接口(11)为圆形接口。