[实用新型]一种基于异常折射现象的太赫兹光谱仪

权利要求书

1.一种基于异常折射现象的太赫兹光谱仪，其特征在于：由至少三个平行排列、间隔不等、长度一致的金属平板(1)，金属平板间的填充材料(2)以及金属平板的支架(3)组成，其中每个金属平板的厚度、长度以及金属平板的周期这三个结构参数引起的相位梯度满足异常折射公式，其中n_e、n_i分别为出射光所在空间与入射光所在空间的折射率，θ_i、θ_e分别为入射角和出射角，dΦ/dx表示相位梯度，m为衍射级次，P为金属平板的周期；当入射光的波长不同，出射光的折射角度也不同，所以不同波长的光的出射位置也会不同。

2.根据权利要求1所述的一种基于异常折射现象的太赫兹光谱仪，其特征在于：所述金属平板(1)的材料为金属，且其在太赫兹波段的电导率大于10⁷S/m。

3.根据权利要求1所述的一种基于异常折射现象的太赫兹光谱仪，其特征在于所述金属平板间的填充材料(2)是空气。

4.根据权利要求1所述的一种基于异常折射现象的太赫兹光谱仪，其特征在于所述金属平板的支架(3)的材料为合成树脂。

5.根据权利要求1所述的一种基于异常折射现象的太赫兹光谱仪，其特征在于所属金属平板的周期不变，且要小于或等于入射波长。