[实用新型]一种天线平面近场扫描架装置有效

专利信息
申请号: 201820626915.7 申请日: 2018-04-27
公开(公告)号: CN208314080U 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 周勇;郁佳婧;高知明;陈挺 申请(专利权)人: 南京信息工程大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 马严龙
地址: 210044 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 装配体 近场扫描 天线平面 本实用新型 集成化设计 测试要求 小型天线 移动定位 装置集成 体积小 重量轻 探头
【说明书】:

本实用新型公开了一种天线平面近场扫描架装置,其特征在于:包括X轴装配体、Y轴装配体、Z轴装配体,Y轴装配体在X轴装配体上活动,Z轴装配体在Y轴装配体上活动,探头在Z轴装配体上活动。与现有技术相比,本实用新型的一种天线平面近场扫描架装置,利用集成化设计的思想,实现了X、Y、Z三个轴方向上的移动定位,整个装置集成化程度高、精度高、稳定性好、体积小重量轻,使用方便,成本低,满足小型天线的测试要求。

技术领域

本实用新型涉及一种天线平面近场扫描架装置,属天线测量技术领域。

背景技术

天线近场测试是对现代高性能天线设计的必要的验证方法。相较于传统的远场测量,它具有效率高,精度高,受环境影响小的特点。天线近场测试系统主要由测试暗室子系统,采样扫描系统-包括多轴采样架及多轴步进电机、多轴运动控制器、伺服驱动器、近场测试探头、工业控制计算机及外设等,信号链路子系统-包括矢量网络分析仪系统、数据处理计算机及外设等组成。目前,国内研究天线近场测试平台的单位主要是一些高校和研究所,如西安电子科技大学、北京航空航天大学及中电所,他们的产品定位平面度可达0.08mm左右,通过激光跟踪仪辅助和控制系统的优化最高可以达到0.04mm。但他们大多采用塔基式结构,体积庞大、集成化程度不高、结构复杂、不便贴吸波材料以降低测试平台散射对测试结果的影响,一般只适用于大型雷达天线的测试。且他们的产品使用局限性较大,使用不太方便。本实用新型专利采用丝杠代替来达到精度高的目的;利用四根柱作为支撑提高了稳定性。

实用新型内容

本实用新型需要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足,而提供一种稳定性好,定位精度高的测试扫描架装置,提高了天线近场测试的可靠性。

为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:

一种天线平面近场扫描架装置,包括X轴装配体、Y轴装配体、Z轴装配体,Y轴装配体安装在X轴装配体上,Z轴装配体安装在Y轴装配体上,Y轴装配体在X轴装配体上活动,Z轴装配体在Y轴装配体上活动;

所述X轴装配体包括一对卧式设置的X轴基座,两根X轴基座相互平行,两根X轴基座之间具有X轴电机固定座以及一组X轴丝杠固定座,两个X轴丝杠固定座之间设置有X轴丝杠,X轴电机固定座上安装有X轴电机,X轴电机连接X轴丝杠的端部,所述X轴基座沿长度方向安装有X轴导轨,X轴导轨的侧部沿长度方向安装有X轴光栅尺;

所述Y轴装配体包括一对立式设置的Y轴基座,两根Y轴基座相互平行,两根Y轴基座之间具有Y轴电机固定座以及一组Y轴丝杠固定座,两个Y轴丝杠固定座之间设置有Y轴丝杠,Y轴电机固定座上安装有Y轴电机,Y轴电机连接Y轴丝杠的端部,所述Y轴基座沿长度方向安装有Y轴导轨,Y轴导轨的侧部沿长度方向安装有Y轴光栅尺,两根Y轴基座的同向端部设置有Y轴基座滑动平台,Y轴基座滑动平台上具有在X轴导轨上活动的Y轴导轨滑块,Y轴导轨滑块上具有X轴读数头,Y轴基座滑动平台上还设置有X轴螺帽固定端,X轴螺帽固定端内具有安装在X轴丝杠上的丝杠螺帽;

所述Z轴装配体包括Z轴活动平台,Z轴活动平台分为相互垂直的两个板面,其中一个板面上设置有在Y轴导轨上活动的Z轴导轨滑块和Y轴螺帽固定端,Z轴导轨滑块上具有Y轴读数头,Y轴螺帽固定端内具有安装在Y轴丝杠上的丝杠螺帽,两个板面中的另一个板面上设置有一对相互平行的Z轴导轨,两根Z轴导轨之间具有一组Z轴丝杠固定座,两个Z轴丝杠固定座之间设置有Z轴丝杠,Z轴丝杠的端部具有Z轴电机,一对Z轴导轨上设置有探头滑动平台,探头滑动平台上设置有在Z轴导轨上活动的探头滑块以及安装在Z轴丝杠上的Z轴螺帽固定端,探头滑动平台上还设置有用于安装探头的固定架。

作为进一步的优选方案,两根X轴基座的两端以及两根Y轴基座的两端均设置有挡板,X轴基座和Y轴基座上均设置有滑座限位。

作为进一步的优选方案,所述X轴电机与X轴丝杠之间、Y轴电机与Y轴丝杠之间以及Z轴电机与Z轴丝杠之间均设置有联轴器。

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