[实用新型]一种翻盖式IC测试座

说明书

本实用新型公开了一种翻盖式IC测试座，由固定座、芯片座和闭合盖构成，所述芯片座固定于固定座上，所述闭合盖通过连接装置与芯片座连接，所述芯片座上设有芯片槽和卡槽，所述闭合盖两面的结构对应一致，所述闭合盖上设有芯片垫板和卡扣；所述连接装置由于固定柱、伸缩柱、第一固定盘和第二固定盘构成，所述伸缩柱的一端嵌合于固定柱的内部且与固定柱转动连接，所述伸缩柱另一端与第一固定盘盘体固定连接。通过闭合盖和芯片座伸缩式翻转结构的设计，可以随意改变闭合盖和芯片座之间的位置和角度，方便了测试座的维修和整体的检测，通过闭合盖双面闭合结构的设计，解决了闭合盖损坏整体拆卸过程的繁琐性，减免了更换闭合盖费用的支出。

技术领域

本实用新型涉及IC元器件测试设备技术领域，具体为一种翻盖式IC测试座。

背景技术

IC测试座，又称IC测试夹具、IC测试治具或IC测试架。IC测试座主要用于检查在线的单个IC元器件以及各电路网络的开、短路情况，以及模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试。

目前翻盖式的IC测试座大多由一个转轴贯穿测试座与闭合盖，通过转轴实现闭合盖与测试座之间的转动闭合，该转动结构较为固定，固定转动结构大多都是通过螺丝进行限位固定，在盖体出现损坏时，更换较为麻烦，同时也造成更换费用的支出，传统的固定式转动结构，当盖体出现小的破损，给维修带来一定的不便。为了解决上述问题，因此，我们提出了一种翻盖式IC测试座。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种翻盖式IC测试座，解决了背景技术中所提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种翻盖式IC测试座，由固定座、芯片座和闭合盖构成，所述芯片座固定于固定座上，所述闭合盖通过连接装置与芯片座连接，所述芯片座上设有芯片槽和卡槽，所述闭合盖两面的结构对应一致，所述闭合盖上设有芯片垫板和卡扣；所述连接装置由于固定柱、伸缩柱、第一固定盘和第二固定盘构成，所述伸缩柱的一端嵌合于固定柱的内部且与固定柱转动连接，所述伸缩柱另一端与第一固定盘盘体固定连接，所述第二固定盘与固定柱固定连接，所述第一固定盘和第二固定盘盘心上均设有旋转螺丝，所述旋转螺丝均通过转轴贯穿衔接。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述第一固定盘上的转轴两端分别与闭合盖嵌合槽两端槽壁固定连接。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述第二固定盘上的转轴两端分别与芯片座嵌合槽两端槽壁固定连接。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述第一固定盘与第二固定盘的盘体大小相同且盘心上的旋转螺丝与转轴嵌合结构匹对一致。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述闭合盖两盖面上的卡扣和芯片垫板与芯片座上的卡槽和芯片槽嵌合位置对应一致。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1.通过闭合盖和芯片座伸缩式翻转结构的设计，通过伸缩可以拉伸闭合盖与芯片座之间的距离，通过翻转可以调整闭合盖的角度，通过该结构的设计，可以随意改变闭合盖和芯片座之间的位置和角度，从而方便了测试座的维修和整体的检测。

2.通过闭合盖双面闭合结构的设计，当闭合盖一端嵌合面出现损坏时，通过旋转将相同结构的另一端当作嵌合面使用，解决了单面嵌合结构出现损坏时，闭合盖整体拆卸过程的繁琐性，同时一盖两用功能也减免了更换闭合盖费用的支出。

附图说明

图1为本实用新型一种翻盖式IC测试座整体外观结构示意图；

图2为本实用新型一种翻盖式IC测试座连接装置结构示意图；

图3为本实用新型一种翻盖式IC测试座闭合盖结构侧视示意图。