[实用新型]一种新型FLICKER测试系统

说明书

本实用新型提供一种新型FLICKER测试系统，包括中央控制系统；中央控制系统分别与分析模组、探头模组、送料机构、第一旋转机构、第二旋转机构和升降机构通讯连接；第二旋转机构包括弧形滑轨和移动装置；探头模组与第一旋转机构连接；第一旋转机构连接于移动装置上；移动装置设于弧形滑轨内；弧形滑轨设于升降机构上。本实用新型提供的新型FLICKER测试系统，通过中央控制系统、分析模组、探头模组、送料机构、第一旋转机构和第二旋转机构构成的系统，实现了对液晶面板的多角度多方位的FLICKER测试目的，结构简单、实用。

技术领域

本实用新型涉及FLICKER测试领域，特别涉及一种新型FLICKER测试系统。

背景技术

在液晶面板的使用过程中，由于公开电极信号(VCOM)的极性切换会产生水平的条纹的闪烁现象，一般称之为Flicker现象。其中，Flicker闪烁值的数值大小，直接反映了液晶面板的品质可靠性。通常，Flicker闪烁值的数值越小，表面液晶面板产生的图像残留(ImageSticking,IS)的风险越小，反之则风险越大。随着平板显示器的迅速发展，消费者对其显示效果的要求也越来越高，这就要求在液晶面板的生产过程中对其进行Flicker闪烁值测试，传统的测试液晶面板Flicker闪烁值的机构的光学探头由人员操作，测试结果可能存在偏差，并且只能对单块的液晶面板进行测试，测试效率低。近几年，市场上出现了以一些可以运用于生产线的液晶屏幕的Flicker测试，但现有的测试系统只能在液晶面板进行单一角度的测试，无法满足多角度多方位的测试需求。

实用新型内容

为解决上述背景技术中提到的问题，本实用新型提供一种新型FLICKER测试系统，包括中央控制系统；所述中央控制系统分别与分析模组、探头模组、送料机构、第一旋转机构、第二旋转机构和升降机构通讯连接；

所述第二旋转机构包括弧形滑轨和移动装置；

所述探头模组与所述第一旋转机构连接；所述第一旋转机构连接于移动装置上；所述移动装置设于所述弧形滑轨内；所述弧形滑轨设于所述升降机构上。

进一步地，所述中央控制系统与吸附机构通讯连接；所述吸附机构设于检测平台上。

进一步地，所述升降机构包括立柱；所述立柱侧壁设有滑槽；所述滑槽沿长度方向设有升降装置；所述升降装置与所述弧形滑轨连接。

进一步地，所述吸附机构与负压机连接。

进一步地，多个第一旋转机构通过连板与移动装置连接。

进一步地，所述分析模组为光谱分析仪。

本实用新型提供的新型FLICKER测试系统，通过中央控制系统、分析模组、探头模组、送料机构、第一旋转机构和第二旋转机构构成的系统，实现了对液晶面板的多角度多方位的FLICKER测试目的，结构简单、实用。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型提供的新型FLICKER测试系统的框图；

图2为新型FLICKER测试系统的立体图；

图3为吸附槽剖面示意图；

图4为送料机构示意图。

附图标记：

10中央控制系统 20分析模组 30探头模组

40送料机构 50吸附机构 51吸附槽