[实用新型]测试治具及测试系统

权利要求书

1.一种测试治具，其特征在于，包括固定部和载台部，所述固定部设置于所述载台部上，所述固定部上设置有第一探测结构和第二探测结构；所述第一探测结构的第一端通过第一连接结构与电路板上的第一接触点连接，所述第二探测结构的第一端通过第二连接结构与所述电路板上的第二接触点连接；

所述载台部用于放置待测试的显示模组，所述显示模组包括相对设置的第一基板和第二基板以及与所述第二基板连接的柔性线路板，所述第一探测结构的第二端与所述柔性线路板上的第一检测点接触，所述第二探测结构的第二端与所述第一基板上的第二检测点接触，以使所述电路板与所述显示模组连接。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述载台部包括固定部区域和显示模组区域，所述固定部区域用于放置所述固定部，所述显示模组区域用于放置所述显示模组；所述固定部包括第一夹子部和第二夹子部，所述第一夹子部设置于所述载台部的固定部区域，所述第二夹子部位于所述第一夹子部上，所述第一探测结构和所述第二探测结构设置于所述第二夹子部中且所述第一探测结构的第二端和所述第二探测结构的第二端从所述第二夹子部中伸出。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述电路板包括第一子电路板和第二子电路板，所述第一子电路板与所述第二子电路板连接，所述第二子电路板包括所述第一接触点和所述第二接触点；

所述第一子电路板设置于所述载台部的固定部区域，所述第一子电路板位于所述载台部和所述第一夹子部之间；

所述第二子电路板位于所述第二夹子部上且位于所述第二夹子部的远离所述载台部的一侧。

4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述第一子电路板包括测试电路，所述测试电路包括第一连接端和第二连接端；

所述第一连接结构包括第三探测结构和第一连接线，所述第一探测结构的第一端通过所述第一连接线和所述第三探测结构的第一端连接，所述第三探测结构的第二端与所述第一接触点接触，所述第一接触点与所述第一连接端连接；

所述第二连接结构包括第四探测结构和第二连接线，所述第二探测结构的第一端通过第二连接线和所述第四探测结构的第一端连接，所述第四探测结构的第二端与所述第二接触点接触，所述第二接触点与所述第二连接端连接。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述第一夹子部中设置有第五探测结构和第六探测结构，所述第二子电路板还包括第三接触点和第四接触点，所述第一接触点与所述第三接触点连接，所述第二接触点与所述第四接触点连接；

所述第五探测结构的第一端通过第三连接结构与所述第三接触点连接，所述第五探测结构的第二端与所述第一连接端连接，所述第五探测结构的第二端从第一夹子部中朝向所述第一子电路板伸出；

所述第六探测结构的第一端通过第四连接结构与所述第四接触点连接，所述第六探测结构的第二端与所述第二连接端连接，所述第六探测结构的第二端从第一夹子部中朝向所述第一子电路板伸出。

6.根据权利要求5所述的测试治具，其特征在于，所述第一夹子部设置有凸起结构，所述第二夹子部上设置有与所述凸起结构对应设置的通孔结构，所述凸起结构卡设于所述通孔结构。

7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述第三连接结构包括第七探测结构和第三连接线，所述第五探测结构的第一端通过所述第三连接线与所述第七探测结构的第一端连接，所述第七探测结构的第二端与所述第三接触点接触，所述第三连接线和所述第七探测结构位于所述凸起结构中且所述第七探测结构的第二端从所述凸起结构中朝向所述第二子电路板伸出；

所述第四连接结构包括第八探测结构和第四连接线，所述第六探测结构的第一端通过所述第四连接线与所述第八探测结构的第一端连接，所述第八探测结构的第二端与所述第四接触点接触，所述第四连接线和所述第八探测结构位于所述凸起结构中且所述第八探测结构的第二端从所述凸起结构中朝向所述第二子电路板伸出。