[实用新型]一种改进型探针

说明书

本实用新型提供了一种改进型探针，属于检测技术领域。它解决了现有探针在检测时会对检测件造成损坏等技术问题。本改进型探针包括针管、伸缩弹簧和柱塞，伸缩弹簧设置在针管内，柱塞包括内伸缩筒和针柱，内伸缩筒滑动连接在针管内且内伸缩筒的一端伸出针管，伸缩弹簧与内伸缩筒位于针管内的端部抵靠，内伸缩筒内具有伸缩腔，伸缩腔的腔口位于内伸缩筒伸出针管的一端端部，针柱穿入伸缩腔内且针柱与内伸缩筒滑动连接，伸缩腔内设有缓冲弹簧，缓冲弹簧的一端与内伸缩筒抵靠，缓冲弹簧的另一端与针柱穿入伸缩腔的端部抵靠，自然状态下缓冲弹簧的弹力小于伸缩弹簧的弹力。本实用新型具有检测时避免对检测件造成损坏的优点。

技术领域

本实用新型属于检测技术领域，涉及一种改进型探针。

背景技术

探针是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件。

现有探针结构例如中国专利文献公开的一种稳定地传送测试信号的探针【授权公告号CN102971842B】，包括：上柱塞，上柱塞被构造成电连接到半导体装置；下柱塞，下柱塞被构造成电连接到测试器；弹性构件，弹性构件设置在上柱塞与下柱塞之间，并且弹性偏压上柱塞和下柱塞以使上柱塞和下柱塞彼此分隔开；导电构件，导电构件设置在弹性构件的内部或外部中并电连接上柱塞和下柱塞；和桶状部，在桶状部中容纳上柱塞、下柱塞、弹性构件和导电构件。现有的探针均的柱塞通过一个弹簧来实现弹性接触，由于检测的电子五金元器件交精密，存在柱塞接触到电子五金元器件时的作用力太大导致对检测的电子五金元器件造成损坏的情况。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种改进型探针,本实用新型解决的技术问题是在检测时避免对检测件造成损坏。

本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：

一种改进型探针，包括针管、伸缩弹簧和柱塞，所述伸缩弹簧设置在针管内，其特征在于，所述柱塞包括内伸缩筒和针柱，所述内伸缩筒滑动连接在针管内且内伸缩筒的一端伸出针管，所述伸缩弹簧与内伸缩筒位于针管内的端部抵靠，所述内伸缩筒内具有伸缩腔，所述伸缩腔的腔口位于内伸缩筒伸出针管的一端端部，所述针柱穿入伸缩腔内且针柱与内伸缩筒滑动连接，所述伸缩腔内设有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的一端与内伸缩筒抵靠，所述缓冲弹簧的另一端与针柱穿入伸缩腔的端部抵靠，自然状态下所述缓冲弹簧的弹力小于伸缩弹簧的弹力。

在伸缩弹簧的作用下使得柱塞的针柱位于针管的外端，在检测时，针柱的端部会与检测件接触，由于缓冲弹簧的弹力较小，在接触时缓冲弹簧先受力被压缩，因此能减小针柱的端部作用在检测件上的作用力，避免了检测件被损坏的情况；在缓冲弹簧的弹力相同或者大于伸缩弹簧的弹力时，伸缩弹簧被压缩，内伸缩筒会向针管内滑动，使得针柱向针管内收缩。

在上述的改进型探针中，所述针管的端口为缩口一，所述内伸缩筒具有能与针管内壁贴靠的内滑动段和能穿出缩口一的穿出段，所述内滑动段和穿出段之间通过呈圆台型的抵靠段连接，所述抵靠段能与缩口一抵靠。上述结构能限定内伸缩筒的位置，避免内伸缩筒从针管内脱离。

在上述的改进型探针中，所述穿出段的端口形成缩口二，所述针柱具有伸入内伸缩筒的滑柱段、穿过缩口的限位段和与限位段连接的检测段，所述滑柱段的周面能与伸缩腔的腔壁贴靠，所述限位段的直径小于滑柱段和检测段的直径，所述缩口二能在缓冲弹簧压缩后与检测段的端部抵靠，且在缓冲弹簧处于自然状态时缩口二能与滑柱段的端部抵靠。该结构能保证针柱不会从伸缩筒脱离，同时保证针柱具有足够的伸缩位移。

在上述的改进型探针中，所述滑柱段的端部固定有导向柱二，所述导向柱二伸入伸缩弹簧内。导向柱二能保证伸缩弹簧始终沿其轴线伸缩形变。

在上述的改进型探针中，所述针管的一端一体成型有上探头，所述内伸缩筒设置在针管的另一端，所述针柱穿出内伸缩筒的端部为下探头，所述伸缩弹簧的一端与针管具有上探头一端的内端面抵靠，所述伸缩弹簧的另一端与内伸缩筒抵靠。该结构使得针管整体长度较短。