[实用新型]一种电子元器件测试夹具有效

专利信息
申请号: 201820126347.4 申请日: 2018-01-25
公开(公告)号: CN207964886U 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 李冠皇 申请(专利权)人: 北京励芯泰思特测试技术有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 北京思格颂知识产权代理有限公司 11635 代理人: 杨超;潘珺
地址: 100088 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 接插 电子元器件 测试夹具 测试插座 模块底板 承载件 探针 测试设备 电联接 测试 测试电子元器件 本实用新型 安装测试 测试台面 测试效率 单个器件 低温环境 高低温箱 外部接触 温度测试 地连接 可拆卸 结霜 排布 温箱 全程 保证
【权利要求书】:

1.一种电子元器件测试夹具,其特征在于,包括:承载件和多个接插模块;

所述多个接插模块排布在所述承载件上,所述接插模块包括:接插模块底板、探针和测试插座;

所述接插模块底板与所述承载件连接;

所述探针与所述测试插座分别安装在所述接插模块底板上,且所述探针与所述测试插座电联接。

2.如权利要求1所述的电子元器件测试夹具,其特征在于,所述承载件包括:上下至少两个承载部件,所述承载部件为盘状或环状;所述多个接插模块并列排布于相邻的两个承载部件之间,且在垂直方向上分别与所述相邻的两个承载部件连接。

3.如权利要求1所述的电子元器件测试夹具,其特征在于,所述承载件为单个承载部件,所述承载部件为盘状或环状;所述多个接插模块并列排布于所述承载部件上且在垂直方向与所述单个承载部件连接。

4.如权利要求1所述的电子元器件测试夹具,其特征在于,所述承载件为单个筒状部件,在筒侧壁沿垂直方向开有多个孔和/或槽;所述多个接插模块位于所述孔和/或槽中,与所述筒侧壁连接。

5.如权利要求2-4任一项所述的电子元器件测试夹具,其特征在于,所述接插模块底板与所述承载件的连接方式包括下列方式一种或多种的组合:螺纹连接、卡扣连接、粘接连接、锁扣连接和焊接。

6.如权利要求5所述的电子元器件测试夹具,其特征在于,盘状或环状承载部件的边缘具有翻边,在所述翻边上分布有螺纹孔,所述接插模块底板的至少一端抵靠于所述翻边上且与所述翻边通过所述螺纹孔螺纹连接。

7.如权利要求2或3所述的电子元器件测试夹具,其特征在于,所述承载部件的底部在垂直方向上分布有多个定位安装孔。

8.如权利要求2-4任一项所述的电子元器件测试夹具,其特征在于,所述探针安装在所述接插模块底板远离所述承载件中心轴的一侧,测试插座安装在接插模块底板靠近所述承载件中心轴的一侧。

9.如权利要求1所述的电子元器件测试夹具,其特征在于,所述接插模块还包括:测试插座垫板,所述测试插座垫板位于所述接插模块底板和测试插座之间。

10.一种电子元器件测试系统,包括:如权利要求1-9任一项所述的电子元器件测试夹具和测试设备;

所述电子元器件测试夹具可拆卸地连接于所述测试设备的测试台面;

所述测试设备与电子元器件测试夹具上的各接插模块电联接,对所述接插模块上接插的被测试电子元器件进行测试。

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