[发明专利]地下工程岩体质量评价方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

公开了一种地下工程岩体质量评价方法、装置、存储介质及电子设备，属于岩体质量评价技术领域。该方法包括：获取目标地下工程岩体质量评价区的判据数据，判据数据包括岩石饱和单轴抗压强度值，标记为A；岩体的完整性系数，标记为B；岩体结构面的形状数据，标记为C；岩体所在的地下水状态数据，标记为D；岩体结构面与洞轴向关系数据，标记为E；岩体所在地的低温条件影响系数，标记为F；岩爆强度影响或强度应力比数据，标记为G；计算修正后的HC＇；根据修正后的HC＇，得到地下工程岩体分级结果。该装置、存储介质及电子设备均能够实现该方法。其能够在考虑地应力及地温的情况下，对地下工程岩体质量进行质量评价。

技术领域

本发明涉及岩体质量评价技术领域，特别是涉及一种地下工程岩体质量评价方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

岩体或工程岩体的分级一直被认为是岩石力学及其工程应用研究的最基本内容，是隧洞或者隧道工程设计的基础。现有的岩体分级标准可应用于地下工程岩体稳定性与支护参数设计，而我国地下工程建设所面临的地质条件日趋复杂，会碰到如高地应力、高地温、高岩溶水压等特殊地质环境。

总之，目前针对高地应力高地温环境下具体工程的围岩分类方法体系缺乏系统的思路和应用，尤其是针对高地温条件下岩体质量分级方法没有具体的文献和专利技术。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种地下工程岩体质量评价方法、装置、存储介质及电子设备，其能够在考虑地应力及地温的情况下，对地下工程岩体质量进行质量评价，从而更加适于实用。

本发明提供的地下工程岩体质量评价方法的技术方案如下：

本发明提供的地下工程岩体质量评价方法包括以下步骤：

获取目标地下工程岩体质量评价区的判据数据，所述判据数据包括岩石饱和单轴抗压强度值，标记为A；岩体的完整性系数，标记为B；岩体结构面的性状数据，标记为C；岩体所在的地下水状态数据，标记为D；岩体结构面与洞轴向关系数据，标记为E；岩体所在地的地温条件影响系数，标记为F；岩爆强度影响或强度应力比数据，标记为G；

根据公式(1)计算修正后的HC＇：

HC′＝HC-F-G (1)

其中，在公式(1)中，

HC＝A+B+C+D+E；

根据所述修正后的HC＇，得到所述地下工程岩体分级结果。

本发明提供的地下工程岩体质量评价方法还可采用以下技术措施进一步实现。

作为优选，所述获取目标地下工程岩体质量评价区的判据数据具体包括以下步骤：

针对所述目标地下工程岩体质量评价区进行钻孔并取出岩芯，其中，所述钻孔的终孔深度至少达到工程设计埋深；

针对所述钻孔、岩芯及所述钻孔周围的围岩进行测试，得到所述目标地下工程岩体质量评价区的判据数据。

作为优选，所述目标地下工程岩体质量评价区的判据数据的确定方法具体包括：

所述岩石饱和单轴抗压强度值的确定方法为根据室内完整岩芯的岩石力学实验确定；

所述岩体的完整性系数的确定方法为所述岩芯与目标地下工程岩体评价区现场岩体纵波波速之比的平方值；

所述岩体结构面的性状数据、岩体所在的地下水状态数据和岩体结构面与洞轴向关系数据采用钻孔电视确定；

所述岩体所在地的地温条件影响系数的修正表如下：

岩爆强度影响或强度应力比数据的修正表如下：